試驗內(nèi)容包括絕緣電(diàn)阻、吸收比和(hé)Ω♥極化(huà)指數(shù)。
測量電(diàn)氣設備的(de)絕緣電(diàn)阻,是(÷←±γshì)檢查設備絕緣狀态最簡便和(hé)最基本的(de)方法₹←♣。在現(xiàn)場(chǎng)普遍用(y™♠òng)絕緣電(diàn)阻測試儀測量絕緣電(diàn)阻。絕緣電(diàn)阻值的(de)大(dà)小(x™♦₹iǎo)常能(néng)靈敏地(dì)反映絕緣情況,能(néng)有(yǒu)效地(dì)發現(x>λiàn)設備絕緣局部或整體(tǐ)受潮和(hé)髒污,以及>↕£©絕緣擊穿和(hé)嚴重過熱(rè)老(lǎ€↓₹♠o)化(huà)等缺陷。
用(yòng)絕緣電(diàn)阻測試儀測量設備的(de)絕緣電(diàn)阻,由于π∞ γ受介質吸收電(diàn)流的(de)影(yǐ§♣>ng)響,絕緣電(diàn)阻測試儀指示值随時₩(shí)間(jiān)逐步增大(dà),通(tōng)常讀(d₽₩♠ú)取施加電(diàn)壓後60s的(de¥★∏)數(shù)值或穩定值,作(zuò)為(wèi)工(gōng)程上(shàng)的(de)絕緣電 →(diàn)阻值。
吸收比K為(wèi)60s絕緣電(diàn)阻值(R60s)與15s絕緣電(diàn)阻值(R15s)之比值,即:
K=R60s/R15s
對(duì)于大(dà)容量和(hé)吸收過程較長(cháng)的(de)被試品,如♦&(rú)變壓器(qì)、發電(diàn)機(jī)、電(diànπλ)纜、電(diàn)容器(qì)等電(diàn)氣設備,有(yǒu)時•♥∞δ(shí)吸收比值R60s/R15s尚不(bù)足以反映吸收的(de)全過程,可(kě)采用(yòng)較長(c♣ε≤•háng)時(shí)間(jiān)的(de)絕緣電(diàn)阻比☆σ™值,即10min時(shí)的(de)絕緣電(dià↕♣₽n)阻(R10min)與1min時(shí)的(de)絕緣電(diàn)阻(R1min)的(de)比值PI來(lái)描述絕緣吸收的(de)全過程,PI稱•€作(zuò)絕緣的(de)極化(huà)指數(shù),即:
PI=R10min/R1min
在工(gōng)程上(shàng),絕緣電(diàn)阻和(hεβ •é)吸收比(或極化(huà)指數(shù))能(néng)反映發電(diàn)機(<↓jī)、油浸式電(diàn)力變壓器(qì)等設備絕緣的(de)受潮程度。絕緣受潮後吸收λ¥♦比(或極化(huà)指數(shù))值降低(dī)(如(rú)圖1-1), 因¥≠此它是(shì)判斷絕緣是(shì)否受→✘潮的(de)一(yī)個(gè)重要(yào)指标。
應該指出,有(yǒu)時(shí)絕緣具有($∞yǒu)較明(míng)顯的(de)缺陷(例如(rú)絕緣在高(gāo)壓下σ∑(xià)擊穿),吸收比(或極化(huà)指數(shù))值仍然很(hěn)好(hǎo)。吸≤®¥收比(或極化(huà)指數(shù))不(bù)能(néng)用(y≤ ₩òng)來(lái)發現(xiàn)受潮、髒污λσ以外(wài)的(de)其他(tā)局部絕緣缺陷。
試驗最常用(yòng)的(de)測量儀表是(shì)ZC♥♣εγ-430A絕緣電(diàn)阻測試儀。
絕緣電(diàn)阻測試儀按電(diàn)源型式通(tōng)£♠β常可(kě)分(fēn)為(wèi)發電(diàn)機(jī)型和($∏αhé)整流電(diàn)源型兩大(dà)類。發電(dià✔€↔n)機(jī)型一(yī)般為(wèi)手搖•£∑•(或電(diàn)動)直流發電(diàn)機(jī)或交流發電(di¥àn)機(jī)經倍壓整流後輸出直流電(diàn)壓;整流電(diàn•π )源型由低(dī)壓工(gōng)頻(pín)交流電(di<$àn)(或幹電(diàn)池)經整流穩壓、品體(tǐ)管振蕩器(qì)升壓和λ÷ (hé)倍壓整流後輸出直流電(diàn)壓。
絕緣電(diàn)阻測試儀的(de)電(diàn)壓通(t™←♦ōng)常有(yǒu)100V、250V、500V、1000V、2500V、5000V、10000αγV等多(duō)種。也(yě)有(yǒu)可(kě)連續改₽™變輸出電(diàn)壓的(de)絕緣電(diàn)阻測試儀。應區(qū)分(fēn)不(bù)同"∏被試設備,按照(zhào)相(xiàng)關規程的≈(de)有(yǒu)關規定選用(yòng)适當輸出電(dià§$∑n)壓的(de)絕緣電(diàn)阻測試儀。
對(duì)水(shuǐ)內(nèi)冷(lě≥♠ng)發電(diàn)機(jī)采用(yòng)專用(yòng)絕緣電(diàn)阻測試儀測量絕緣φπ&α電(diàn)阻。
絕緣電(diàn)阻測試儀的(de)容量即最大(dà)輸出電(diàn)流值(輸©≠♥σ出端經亳安表短(duǎn)路(lù)測得(de))對(duì)吸收比和(hé↔)極化(huà)指數(shù)測最有(yǒu)一(yī)定的(de)影(yǐng)>≤σ響。測量吸收比和(hé)極化(huà)指數(shù)時(s×↔₽♣hí)應盡籃采用(yòng)大(dà)容量的(d ₹€e)絕緣電(diàn)阻測試儀,即選用(yòng)最大(dà)輸出電(diàn§ )流1mA及以上(shàng)的(de)絕緣電(diàn)阻↓£測試儀,大(dà)型電(diàn)力變壓器(qì)宜選用(yòn✔₽€g)最大(dà)輸出電(diàn)流3mA及以上(shàng)的(de)絕緣電(d<φ∞iàn)阻測試儀,以期得(de)到(dào)較準确的(de)測量結果。
ZC-430A絕緣電(diàn)阻測試儀的(de)負載特性,即被測絕緣電(dià αn)阻R和(hé)端電(diàn)壓U的(deβ↕←)關系曲線,随絕緣電(diàn)阻測試儀的(de)型号而變化(huà★≤©£)。圖1-2為(wèi)絕緣電(diàn)阻測試儀的(de)一(yī)般負載特★®₽性。當被測絕緣電(diàn)阻值低(dī)時(shí),端電(di™♣àn)壓明(míng)顯下(xià)降。
a)對(duì)有(yǒu)介質吸收現(xiàn)象的(de)發電(diàn®≤≤←)機(jī)、變壓器(qì)等設備,絕緣電(diàn)阻值、吸收比值和(hé)極∑σφδ化(huà)指數(shù)随絕緣電(diàn)阻測試儀電(diàn)δ•&壓高(gāo)低(dī)而變化(huà),故曆次試驗應選用(yòng)§∏'♦電(diàn)壓相(xiàng)同和(hé)負©Ω₽σ載特性相(xiàng)近(jìn)的(de)絕緣電(diàn)阻測試儀。
b)對(duì)二次回路(lù)或低(dī)壓配電(diàn)裝置及電✘•(diàn)力布線測量絕緣電(diàn)阻,并$±αΩ兼有(yǒu)進行(xíng)直流耐壓試驗的(de)目的(de)時( ∞shí),可(kě)選用(yòng)2500V絕緣電(diàn)↕≤♣阻測試儀。由于低(dī)壓裝置的(de)絕緣電(diàn)阻一(yī)般較低(dī)(↔∞1MΩ~20MΩ), 絕緣電(diàn)阻測試儀輸出電(diàn)壓因ε₽δ受負載特性影(yǐng)響,實際端電(diàn)壓并不(bù)高(gāo)。用(yòng)2α♠ φ500V絕緣電(diàn)阻測試儀代替直流耐壓試驗時(shí),應考慮到(d☆✘↓ào)由于絕緣電(diàn)阻低(dī)而使端電(diàn)壓降低(✘ ≤φdī)的(de)因素。
3.1 斷開(kāi)被試品的(de)電(diàn)源,拆除或斷§ ¶©開(kāi)對(duì)外(wài)的(de)一(yī)切€ £連線,将被試品接地(dì)放(fàng)電(diàn)。對(duì•π>)電(diàn)容量較大(dà)者(如(rú)發電(diàn)機(jī)、電(dià&βλn)纜、大(dà)中型變壓器(qì)和(hé)電(diàn)容器(qì)等)應充分(fēn)放(f↑$∞àng)電(diàn)(不(bù)少(shǎo)于5min)。放(fàng)電(dià₽¶ n)時(shí)應用(yòng)絕緣棒等工(gōng)具進行(xíng),不(bù)得(de₩δ)用(yòng)手碰觸放(fàng)電(diàn)導線。
3.2 用(yòng)幹燥清潔柔軟的(de)布擦去(qù)被試品外(w✔✔€ài)絕緣(如(rú)變壓器(qì)套管等)表面的(de)髒污,必要(yào) ♠≤時(shí)用(yòng)适當的(de)清潔δ≠劑洗淨。
對(duì)于高(gāo)壓大(dà)容量的(de)電(diàn)力變壓器(qì),若✔₹→濕度等原因造成外(wài)絕緣對(duì)測盤結果影(yǐng)響較大(dà)時(shí)ε•♦φ,應盡量在空(kōng)氣相(xiàng)對(∞ duì)濕度較小(xiǎo)的(de)時(shí)段(如(rú)午後)進行(xíng)≠ 測量。
3.3 絕緣電(diàn)阻測試儀上(shà≠↓©®ng)的(de)接線端子(zǐ)“<α•E”是(shì)接被試品的(de)接地(dì)端的(de),常為(α"↓≥wèi)正極性;“L”是(shì)接被α'®α試品高(gāo)壓端的(de),常為(wèi)負極性;&l∞₩↓dquo;G” 是(shì)接屏蔽端的(de)。“L&r<↕≥&dquo;與被試品之間(jiān)應采用(yòng)相(xiàn• ≈g)應絕緣強度的(de)屏蔽線和(hé)絕緣棒作(zuò)連接。
将絕緣電(diàn)阻測試儀水(shuǐ)平放(fàng)穩,÷π•±試驗前對(duì)絕緣電(diàn)阻測試儀本身(shēn)進行∏ ↕(xíng)檢查。發電(diàn)機(jī)型絕緣電(diàn)阻測試₽<™儀不(bù)搖時(shí)其指示應停在任意位置;當∞α接通(tōng)整流電(diàn)源型絕緣電(diàn)阻測試儀電↔≈™(diàn)源或搖動發電(diàn)機(jī)型絕緣電(diàn)阻測試儀在低('≠dī)速旋轉時(shí),用(yòng)導線瞬時(shí)短×♣(duǎn)接“L”和(hé)“E&rdq ≈$uo;端子(zǐ),其指示應為(wèi)零;開¶©≈¥(kāi)路(lù)時(shí),接通(tōng∏₹)電(diàn)源或絕緣電(diàn)阻測試儀達額定轉速時(shí)其指示應指&ldquo>γλ;∞”。然後斷開(kāi)電(diàn)源或使絕緣電(diàλ$"n)阻測試儀停止轉動,将絕緣電(diàn)阻測試儀的(de)接地(dì)端與被試品的₽®(de)地(dì)線連接,絕緣電(diàn)阻測試儀的(de)高(gāo)壓端接上(shàng'∑δ)屏蔽連接線,連接線的(de)另一(yī)端懸空(kōng)(不(bù)接試品)↔φ±γ,再次接通(tōng)電(diàn)源或驅動絕緣電(diε$¥àn)阻測試儀,絕緣電(diàn)阻測試儀的(☆ de)指示應無明(míng)顯差異。
對(duì)整流電(diàn)源型絕緣電(diàn)阻↓↓★測試儀,将ZC-430A絕緣電(diàn)阻測試儀的(de)接地(dì)端與被試品的(de)地(dì¥φ)線連接,将帶屏蔽的(de)連接線L接到(dào)被試品測量部位,接通(tōng)絕←δ'×緣電(diàn)阻測試儀電(diàn)源開(kāi)始測量,必要(yào)時(shí)接♥€ 上(shàng)屏蔽環(見(jiàn)6.¶β1)。
對(duì)發電(diàn)機(jī)型絕緣電(diàn)阻測試儀保持額定轉速,将帶屏蔽的(d↕ →e)連接線L接到(dào)被試品測量部位開(kāi)始測量。如(rú)遇表面₽★洩漏電(diàn)流較大(dà)的(de)被試品(如(rú)發電(diàn)機(jī)、變₽÷∏©壓器(qì)等)還(hái)要(yào)接上(shàng)屏蔽環(見(jiàn)6. 1)。←¶∑
3.4 對(duì)整流電(diàn)源型絕緣電(di àn)阻測試儀保持其輸入電(diàn)源電(di"←àn)壓和(hé)直流輸出電(diàn)壓穩定,對(duì)發電(diàn)機§♦ $(jī)型絕緣電(diàn)阻測試儀保持絕緣電(diàn)阻測試儀在額定轉速,待∞£♦指針或絕緣電(diàn)阻數(shù)字穩定後(或60s),讀(dú)∞♥✘取絕緣電(diàn)阻值。
3.5 測量吸收比和(hé)極化(huà)指數(shù)時(shí),接通(tōng)被 ¶×試品後,同時(shí)記錄時(shí)間(jiān),分(fēn)别讀(★↕$dú)出15s和(hé)60s(或1min和(hé)10min)♠÷≤•時(shí)的(de)絕緣電(diàn)阻值。
3.6 讀(dú)取絕緣電(diàn)阻值後,對(d↓±uì)發電(diàn)機(jī)型絕緣電(diàn)阻₽測試儀應先斷開(kāi)接至被試品高(g•"āo)壓端的(de)連接線,然後再将絕緣電(diàn)阻測試儀停止運轉。測試大$(dà)容量設備時(shí)更要(yào)注意,防止被試品的(de)電(diàn≠Ω)容在測量時(shí)所充的(de)電(diàn)荷經絕緣電(di ←àn)阻測試儀放(fàng)電(diàn)而♦ ↑使絕緣電(diàn)阻測試儀損壞;對(duì)帶保護的(de)整流電(dià÷$φn)源型絕緣電(diàn)阻測試儀可(kě)以不(bù)受斷開(kāi)接至被試品高(gāo™→)壓端的(de)連接線與将絕緣電(diàn)阻測試儀斷開(k★×¥₹āi)電(diàn)源停止運轉的(de)順序限制(zhì)。
3.7 斷開(kāi)絕緣電(diàn)§↔阻測試儀連線後将被試品短(duǎn)接放(fàng)電>€(diàn)并接地(dì)。
對(duì)發電(diàn)機(jī)型"¥↕--ZC-402B水(shuǐ)內(nèi)冷(lěng)發電(diàn)機(jī)絕緣電(d$αγiàn)阻測試儀當其輸出電(diàn)壓較高(gāo)、被試品電(diàn)容量較大(dà)時(shí)'∏↔,斷開(kāi)絕緣電(diàn)阻測試儀連線後≥γ宜先經電(diàn)阻将被試品放(fàng)電(diàn),待殘餘電(diàn)荷釋放(f ≈àng)一(yī)段時(shí)間(jiān)後再将被試品直接放(fàng)電(dià♥£n)并接地(dì)。
3.8 測量時(shí)應記錄被試設備的(de)溫度、空(kō× ♣•ng)氣溫度、濕度、氣象情況、試驗日(rì)期及使用(yòng)儀表等。
一(yī)般應在空(kōng)氣相(xià₩γng)對(duì)濕度不(bù)高(gāo)于80%條件(jiàn)下(x≈★ φià)進行(xíng)試驗,在相(xiàng)對(duì)Ω©濕度大(dà)于80%的(de)潮濕天氣,電(di'↓>àn)氣設備引出線瓷套表面會(huì)凝結一(yī)層極薄的(de)水(sδ¥huǐ)膜,造成表面洩漏通(tōng)道(dào),使絕緣電(diàn)阻★πβ明(míng)顯降低(dī)。此時(shí) ↕σ,應按圖1-3所示的(de)接線圖,在被試品引出線套管上(shàng)裝₩設屏蔽環(用(yòng)細銅線或細熔絲緊紮數(shù)圈,使↕ ≤其和(hé)引出線套管外(wài)表面緊密接觸),并連接到(dào)絕緣電(diàn★★€)阻測試儀屏蔽端子(zǐ)。屏蔽環應接在靠近(jìn)絕緣電(diàn)阻測試儀∑≤↓<高(gāo)壓端所接的(de)引出線套管端子(zǐ),遠(yuǎn¥★σ)離(lí)接地(dì)部分(fēn),以免造成絕緣電(d✔εσεiàn)阻測試儀過載,使端電(diàn)壓急劇(jù)降低(dī),影(y $♠ǐng)響測量結果。
若試品在上(shàng)一(yī)次試驗後,接地(dì)放(fàng)電(di∑®♣àn)時(shí)間(jiān)t不(bù)充分(fēn),絕緣內(n←↔£§èi)積聚的(de)電(diàn)荷沒有(yǒu)完全釋放(fàng),仍積滞有(yǒu∑>↔)一(yī)定的(de)殘餘電(diàn)荷,會(huì)直接影(yǐng)響絕緣電(d↕♥<iàn)阻、吸收比和(hé)極化(huà)指數(shù)&δ✔的(de)測量結果。圖1-4為(wèi)一(yī)台發電(diàn)£↔§→機(jī)先測量絕緣電(diàn)阻後經曆不(bù)同的(d§εe)放(fàng)電(diàn)時(shí)間σ$σ♦(jiān)再進行(xíng)複測的(de)結果,可(kě)以看(kàn)出,接地(dì)放(f඙∞≤ng)電(diàn)時(shí)間(jiān)至少(shǎo)5min以上(sh≥φ'àng)才能(néng)得(de)到(d₽✔∞£ào)較正确的(de)結果。
對(duì)于交聯電(diàn)纜試驗時(shεí)應注意,由于殘餘電(diàn)荷的(de)影(yǐng)響,電(diàn)纜耐壓前後(€♠™尤其是(shì)直流耐壓)的(de)絕緣電(diàn)阻的(de)變化(huà)可(≥kě)能(néng)較大(dà),放(fàng)電(diàγ✘∑n)時(shí)間(jiān)應足夠長(cháng)。
對(duì)三相(xiàng)發電(diàn)機(jī)分(fēn)相(xiàng↔ε)測量定子(zǐ)絕緣電(diàn)阻時(shí),試完第一(yī)相(xiàng)繞組後,也(y↑↔¥ě)應充分(fēn)放(fàng)電(dià'≠•n)5min以上(shàng),才能(néng)打開(kāi)第二相(xiàng)↕®®β繞組的(de)接地(dì)線試驗第二相(xiàng)繞組。否則同樣會(huì)發生(©<≠✔shēng)相(xiàng)鄰相(xiàng)間(jiān)異極性電(diàn)荷未放(fàn§γα₩g)淨造成測得(de)絕緣電(diàn)阻值偏低(dī)的(de)現(xiàn)象。
測量高(gāo)壓架空(kōng)線路(lù)絕緣電(diàn)阻時(shí),若該線路(l≠ù)與另外(wài)帶電(diàn)線路(lù)有(yǒu ♣)平行(xíng)段,則不(bù)宜進行(xíng)測量,防止靜(jìng)電(diàn)感應電(γ↕↓®diàn)壓危及人(rén)身(shēn)安全,也(yě)避免工(gōng)頻(pín)λ→λ感應電(diàn)流流過絕緣電(diàn)阻測試儀使測量無法進行(xíng)。
測量變電(diàn)所、升壓站(zhàn)高(gāo)壓母線附近(jìn)的 ↓®(de)高(gāo)壓電(diàn)氣設備絕緣電(diàn)阻時(shí),若被試≤→₹設備上(shàng)的(de)感應電(diàn)壓太高(gāo),也(yě)會(huì)對(duìπ)安全和(hé)試驗結果産生(shēng)較大(dà)影(yǐng)響。
雷電(diàn)活動對(duì)架空(kōng)線路(lù)π♦≤有(yǒu)影(yǐng)響時(shí)不(bù)可(kě)進行(xíng)該線路(l λ ù)的(de)絕緣電(diàn)阻測量。
測量絕緣電(diàn)阻時(shí),試品溫度一(yī)般應在10℃~40℃之間©←®>(jiān)。
絕緣電(diàn)阻随著(zhe)溫度升高(gāo)而降低(dī),但(dàn)目前還(h♥ ₩∞ái)沒有(yǒu)一(yī)個(gè)通(tōng)用(yòn÷γ∏g)的(de)固定換算(suàn)公式。
溫度換算(suàn)系數(shù)最好(hǎo)以實測決定。例如(rú)正常狀态下(xi>£à),當設備自(zì)運行(xíng)中停下(xià),在自(zì)行(xíng)冷(l¥φ•♣ěng)卻過程中,可(kě)在不(bù)同溫度下(xià)測✔☆≈量絕緣電(diàn)阻值,從(cóng)而求出其溫度換算(suàn)系數(shù)。
絕緣電(diàn)阻值的(de)測量是(shì)常規試♦ε驗項目中最基本的(de)項目。根據測得(de)的(de)絕緣電(diàn)阻值,可(×←←kě)以初步估計(jì)設備的(de)絕緣狀況,通(tōng)常也(yě)可(kě)決定是(sh±δ∞ì)否能(néng)繼續進行(xíng)其他(tā)♣♥↔施加電(diàn)壓的(de)絕緣試驗項目等。
在DL/T 596中,有(yǒu)關絕緣電(diàn)ε ε☆阻标準,除對(duì)少(shǎo)數(shù)結構比較簡單和(hé€÷>)部分(fēn)低(dī)電(diàn)壓設備規定了(le)最低(dī)值外•¥←'(wài),對(duì)多(duō)數(shù)高(gāo)壓電(dià≠★ n)氣設備的(de)絕緣電(diàn)阻值不(bù)÷δ 作(zuò)規定或自(zì)行(xíng)規定。
除了(le)測得(de)的(de)絕緣電(diàn)阻♥≥§值很(hěn)低(dī),試驗人(rén)員∏ (yuán)認為(wèi)該設備的(de)絕緣不(bù)良外(wài),在σ©♥一(yī)般情況下(xià),試驗人(rén)員(yuá★γn)應将同樣條件(jiàn)下(xià)的(de)不(bù)同相(xiàng)絕緣電 ←$(diàn)阻值進行(xíng)比較,不(bù)應有(yǒu)•↔"明(míng)顯差别,或以同一(yī)設備曆次試驗結果(在可(kě)能(néγ<βng)條件(jiàn)下(xià)換算(suàn)至同一(yī)溫度)進行(xφ≈íng)比較,不(bù)應有(yǒu)顯著降低(dī)(例如(rú)降←¶ε低(dī)至70%), 結合其他(tā)試驗結果進行(xíng<→₩)綜合判斷。需要(yào)時(shí),應對(duì)被試品各部位分(fēn)别進行(xíng'÷β&)分(fēn)解測量(将不(bù)測量部位接屏蔽端),便于分(fēn)析缺陷↕•∏部位。
ZC-430A絕緣電(diàn)阻測試儀每年(nián)應校(xiào)驗一(yī)次,校(xiào)驗結果應滿足JJG 622的(de)φ≤®±規定。