影(yǐng)響測量洩漏電(diàn)流的(de)因™₽↕素

一(yī)、高(gāo)壓引線的(de)影‍σ↑•(yǐng)響

圖1-1所示接線中，直流高(gāo)壓發生(shēng)器(qì)  高(gāo)壓引線及高(gāo)壓輸出端均暴露在空(kōng)氣中，其對(du≈∞"ì)地(dì)、對(duì)絕緣支撐件(jiàn)和(hé)鄰近(jìn)設備等≠©均有(yǒu)一(yī)定的(de)雜(zá)散電(diàn)流、洩漏電♣©βφ(diàn)流流過。這(zhè)些(xiē)α↔ ≠電(diàn)流有(yǒu)流過試品內(nèi)部的(de)體♦≠>(tǐ)積洩漏電(diàn)流I₀；高(gāo)壓矽堆及矽堆至微(wēi)安表高(gāo)壓引線對(duì)地(dìγ¶)雜(zá)散電(diàn)流I₁；屏蔽線對(duì)地(dì)雜(zá)散電(diàn)流I₂，高(gāo)壓引線及高(gāo)壓端通(tōng)過空(kōng)氣對(duì)地(dì)₽‌的(de)雜(zá)散電(diàn)流I•∞₃；高(gāo)壓引線輸出端及加壓端對(duì)鄰近(jìn☆¥₩Ω)設備的(de)雜(zá)散電(diàn)流I₄；設備高(gāo)壓端通(tōng)過外(wài)殼表面對(duì)地(dì)的(de)洩漏電(d‍§≤"iàn)流I₅。

從(cóng)圖3-2可(kě)以看(kàn)出，微(wēi)安表在不(bù)同位π≥∞®置時(shí)流過的(de)電(diàn)流分 ε(fēn)别為(wèi)：

在PAl位置時(shí)，I_PA1＝I₀﹢I₃﹢I₄﹢I₅；

在PA2位置時(shí)，I_PA2＝I₀﹢I₁﹢I₂﹢I₃﹢I₄﹢I₅；

在PA3位置時(shí)，I_PA3＝I₀﹢I₅。

可(kě)以看(kàn)出，在PA2位置時(ε≥shí)測量誤差較大(dà)，且不(bù)易λ★屏蔽。在PAl位置，由于在ZC-501A試驗變壓器(qì)高(gāo)壓側測量并将高(gāo)壓引線屏蔽，排除了(le)I₁、I₂的(de)影(yǐng)響，I₅也(yě)可(kě)以通(tōng)過在試品高(gāo)壓端加屏蔽環屏蔽掉，所以誤差較小(xπφφ✘iǎo)。在PA3位置，雜(zá)散電(diàn)流I₁、I₂、I₃、I₄均不(bù)通(tōng)過微(wēi)安表，若在試品低(dī)壓®₹ ε端采取屏蔽(接地(dì))，如(rú)避雷器(qì)下(xià)部瓷裙加短(d​ ∑<uǎn)路(lù)線接地(dì)，則可(kě)以排除I₅的(de)影(yǐng)響。I₅電(diàn)流與高(gāo)壓引線和(h♦↔é)低(dī)壓微(wēi)安表引線距離(lí)有(yǒu)關，可(kě)以通(t‍£ōng)過加大(dà)兩者距離(lí)等辦法減小(xi×αǎo)影(yǐng)響。可(kě)見(jiàn)在PA3位置進行(xíng)測量是(shì♥π)一(yī)種比較精确的(de)測量方法。這(zhè)種方法測得(deλ♦)的(de)洩漏電(diàn)流偏小(xiǎo)時(shí ♣ו)，應考慮設備接地(dì)端對(duì)地(dì)絕緣狀态。

圖1-1 高(gāo)壓引線對(duì)地(dì)雜(zá)散電(diàπ n)流及表面洩露電(diàn)流示意圖（I₀未畫(huà)出）

在直流電(diàn)壓較高(gāo)時(shí)，如(rú)測110kv及以上(s♦α♥₩hàng)磁吹避雷器(qì)或氧化(huà)鋅避雷器(qì)洩漏電(diàn§&€♣)流時(shí)，高(gāo)壓雜(zá)散電(diàn)流對(duì)試驗結果影(yǐn‍εg)響很(hěn)大(dà)，現(xiàn)場(chǎng)應采取增加λ‍γ®高(gāo)壓引線直徑、減少(shǎo)尖 ∞端毛刺、進行(xíng)屏蔽、增加對(duì)地(dì)距離(lí)、®±&÷微(wēi)安表選擇适當位置等措施，減少(shǎo)雜(zá)散電(diàn)流對(duì)試≤<驗結果的(de)影(yǐng)響。

二、溫度的(de)影(yǐng)響

與絕緣電(diàn)阻測量相(xiàng)同，溫度對(duì)洩漏電(diàn)流測π ↑量結果影(yǐng)響較大(dà)，溫度升高(gāo)，絕緣電(di≤‍àn)阻下(xià)降，洩漏電(diàn)流增大(dà)。不(bù)≥ 同試品及不(bù)同材料、不(bù)同結構的(de)試品其變化(huà↑✘♣≠)特性不(bù)同。

三、電(diàn)源電(diàn)壓的(de)非正弦波形對(duì)測量結果的(de)影(↑β&Ωyǐng)響

對(duì)于用(yòng)ZC-501A試驗變壓器(qì)低(dī)壓側電(diàn)壓根據變比換算(suàn)↕↓₩★出直流高(gāo)壓輸出電(diàn)壓幅值的(dφ₩e)方法來(lái)說(shuō)，電(diàn)流、電(diàn)壓的(de)非正&×弦波會(huì)造成輸出電(diàn)壓的(de)偏低(dī)或偏高(gāo≠‍)，因而影(yǐng)響測量結果。系統中的(de)三次諧波對(✘§duì)正弦波的(de)影(yǐng)響如(rú)圖1-2所示。圖(a)示出的(de)合成→≈≠波屬于平頂波，最大(dà)值比基波的(de)最大(dà)值小(xiǎo)。這(zhè)種電(d εiàn)壓波形用(yòng)于對(duì)洩漏電(diàn)流進行<&∞(xíng)測量時(shí)，會(huì)造成加于被試設備的(de)試驗電(π→β$diàn)壓偏低(dī)，整流後的(de)γ•✔直流電(diàn)壓小(xiǎo)于交流電(diàn)壓有(yǒu∏≤)效值的(de)√2倍。圖(b)示出的(de)合成波與圖(a)£←™正好(hǎo)相(xiàng)反，屬于尖頂波<✘±，最大(dà)值要(yào)比基波的(de)最大(dà↑→)值大(dà)，會(huì)造成輸出直流電(diàn)壓♥±"偏大(dà)。

一(yī)般采用(yòng)以下(xià)方法克服非正弦波的(de)影(yλ∏∑ǐng)響：

圖1-2 三次諧波對(duì)正弦波影(yǐng)響示意±↑<圖
1—基波；2—三次諧波；3—合 π‌±成波

1. 用(yòng)波形畸變小(xiǎo)的(de)自(zì)耦Ω★變壓器(qì)調壓；

2. 選擇電(diàn)源時(shí)最好(hǎo)用(yòng)₩♠波形不(bù)易畸變的(de)線電(diàn)壓；

3. 直接用(yòng)ZC-502分(fēn)壓器(qì)在高(gāo)壓側測量直流高(gāo)壓'☆®Ω。

四、加壓速度對(duì)洩漏電(diàπγn)流測量結果的(de)影(yǐng)響

試驗大(dà)容量試品時(shí)，由于洩漏電(di¥γ♣àn)流存在吸收過程，即1min時(shí)的(de)洩漏電(d‌∞∞iàn)流不(bù)一(yī)定是(shì)真實的(de)洩漏電(diàn)γ∑流，可(kě)能(néng)包括一(yī)定的(de)電(diàn)容電(d≠αiàn)流和(hé)吸收電(diàn)流，而洩漏電(diànΩγ)流又(yòu)是(shì)指加壓1mi±δ'♠n時(shí)的(de)洩漏電(diàn)流值，因此加壓速度對(duì✔↑≤)試驗結果也(yě)有(yǒu)影(yǐng)響。

有(yǒu)資料介紹：有(yǒu)人(rén)曾對(duì)一(yī)條電(§¥±≈diàn)纜作(zuò)過測量，—次加壓和(hé)以每隔1min升壓1kV的(de)¥÷速度逐級加壓的(de)試驗結果相(xiàng)比有(yǒu)•∞​↕很(hěn)大(dà)差異。

為(wèi)得(de)到(dào)較準确的(de)試驗數∏γ≤(shù)據，應采取逐級加壓的(de)方式并規定相(xiàng$ £)應的(de)升壓速度和(hé)電(diàn)壓穩定時(shí)間(ji™↔♦γān)。《規程》中對(duì)電(diàn)纜直流耐壓試驗及洩漏電(σ♣§​diàn)流測量規定的(de)電(diàn)壓穩定時(shí)間(jiān)為(wèi)5∞₹min。這(zhè)是(shì)為(wèi)了(le)克服吸收現(xià←∏≤n)象造成的(de)測量誤差。一(yī)般現(xiàn)場(chǎng)測量時(✔≥ ♠shí)也(yě)都(dōu)采用(yòng)逐級加壓方式。

五、殘餘電(diàn)荷的(de)影(yǐngβ> )響

同測量絕緣電(diàn)阻一(yī)樣，試品殘餘電(diàn) λ£荷對(duì)洩漏電(diàn)流測量也(y↓±γ₩ě)有(yǒu)影(yǐng)響。殘餘電(₹•™diàn)荷極性與直流輸出電(diàn)壓同極性時(shí)，洩漏電(diàn)流有(yα→φΩǒu)偏小(xiǎo)誤差；極性相(xiàng)反時(shí)，有(yǒu)偏大(dà)誤差。因™λ此，洩漏電(diàn)流試驗前和(hé)重複試驗時(shí)，均要(yào)對(duìδ₽ ©)被試品進行(xíng)充分(fēn)放λ<¶ε(fàng)電(diàn)。

六、直流輸出電(diàn)壓極性對(duì)洩漏電(diàn)流測量Ω ®÷結果的(de)影(yǐng)響

洩漏電(diàn)流試驗時(shí)，直流輸出電(diàn)壓一(yī)¥<←般為(wèi)負極性而不(bù)采用(yòng)正極性。試驗證明(míng)，直流輸出電(d→$∞iàn)壓的(de)極性對(duì)試驗結果有(yǒu)影(yǐng)響。↓∑‍δ

以測量電(diàn)纜的(de)洩漏電(diàn)流為(wèi)例說(shuō)明(mín≈$g)如(rú)下(xià)。若絕緣受潮，電∏§♣>(diàn)線芯加正極性試驗電(diàn)壓時(shí)，由于絕緣中的(deγ♥)水(shuǐ)分(fēn)帶正電(diàn)，在電(diàn)場(chǎnλ↓  g)作(zuò)用(yòng)下(xià)，水(shuǐ)分(fēn)被排σ€δ₩斥移向鉛包，造成絕緣中水(shuǐ)分(fēn)相(xiàng× )對(duì)減少(shǎo)，洩漏電(dià ™♥n)流偏小(xiǎo)；電(diàn)纜芯加負極性高¶±↕(gāo)壓時(shí)，在電(diàn)場(chǎng)作(zuò)用(yòng)下(xià)，"∑水(shuǐ)分(fēn)由鉛包滲過絕緣向電(diàn)✘€纜芯集中，使絕緣中水(shuǐ)分(fēn)增加，洩漏電(diàn)流增大(dà)。加負極性直流¶&£"輸出電(diàn)壓，能(néng)更嚴格地(d •ì)判斷受潮程度。絕緣有(yǒu)局部缺陷時(shí)，負極性高(gāo≤€α)壓有(yǒu)助于使絕緣中的(de)水(shuǐ)分(fēn)集中于局部缺陷區(q♥♠←&ū)，易于發現(xiàn)局部缺陷。

因此測洩漏電(diàn)流時(shí)，要(yào ≤ )加負極性高(gāo)壓并讀(dú)取5min時(shí)的(d​"∏≤e)洩漏電(diàn)流值。同樣，用(yò↕>ng)兆歐表測量絕緣電(diàn)阻時(shí•♥)，為(wèi)了(le)易于發現(xiàn)缺陷，也(yě)是(shì)在&ldquo±←;L”端子(zǐ)輸出負極性高(gāo)壓。