電(diàn)氣設備的(de)洩漏電(diàn)流試驗方法及注意事(shì)項

測量洩漏電(diàn)流的(de)原理(lǐ)和(★λ'∞hé)測量絕緣電(diàn)阻的(de)原®₽↑™理(lǐ)本質上(shàng)是(shì)完全相(xiàng)同的(de​∞₩÷)，而且能(néng)檢出缺陷的(de)性質也(yě)大(dà)緻相(xiàng)同。但(dàn)©≤&£由于洩漏電(diàn)流測量中所用(yòng)的(de)電(diλπ®€àn)源一(yī)般均由高(gāo)壓試驗變壓器(qì)或串聯諧振耐壓裝置供給，并用(yòng)微(wēi)安表直接讀(dú)取洩π ★漏電(diàn)流。它與絕緣電(diàn)阻測量相(xiàng)比有(yǒu)特點：

(1)試驗電(diàn)壓高(gāo)，并且可(kě)随意調節，容易使絕緣本身(sε ★★hēn)的(de)弱點暴露出來(lái)。因為(w↑♠♥èi)絕緣中的(de)某些(xiē)缺陷或弱點，隻有(yǒu)在較高(gāo)↕σ≥₹的(de)電(diàn)場(chǎng)強度下 ↕λ€(xià)才能(néng)暴露出來(lái)。

(2)洩漏電(diàn)流可(kě)由微(w∑✔δēi)安表随時(shí)監視(shì)，靈敏度高(σ¶✘gāo)，測量重複性也(yě)較好(hǎo)。

(3)根據洩漏電(diàn)流測量值可(kě)以換算( "✔suàn)出絕緣電(diàn)阻值，而用(yòng)ZC-430A絕緣電(diàn)阻測試儀測出的(de)絕緣電(diàn)阻值則不(bù)可(kě)換算(suàn)出洩漏β₹電(diàn)流值。

(4)可(kě)以用(yòng)i=f(u)或i=f(t)的(de)關系​φλ曲線并測量吸收比來(lái)判斷絕緣缺陷。洩漏電(diàn)流≥♣₩與加壓時(shí)間(jiān)的(de)關系曲線如(rú)圖1-1所示。在直流電(di₹€àn)壓作(zuò)用(yòng)下(xià)，當絕緣受潮÷£¶≠或有(yǒu)缺陷時(shí)，電(diàn)∞♠•"流随加壓時(shí)間(jiān)下(xià)降得(de)比較慢(màn)，最終達到(dào>©¶)的(de)穩态值也(yě)較大(dà)，即絕緣電(≈♥‌≈diàn)阻較小(xiǎo)。

圖1-1 洩漏電(diàn)流與加壓時(shí)間(jiān)的(de)關系曲線
1—良好(hǎo)；2—受潮或有(yǒ£σ✔u)缺陷

1、測量原理(lǐ)

對(duì)于良好(hǎo)的(de)絕緣，其洩漏電(diàn)流與外(wài€★ )加電(diàn)壓的(de)關系曲線應為(wèi)一(yī)直線。但(dàn)實際上★☆↕(shàng)的(de)洩漏電(diàn↔γ)流與外(wài)加電(diàn)壓的(de)關系曲線僅在一(yī)定≠Ω ←的(de)電(diàn)壓範圍內(nèi)才是(shì)近(jì£& ™n)似直線，如(rú)圖1-2中的(de)OA段。若超過此範圍後，離(lí✘δ©↔)子(zǐ)活動加劇(jù)，此時(shí)電(d₹¥iàn)流的(de)增加要(yào)比電(diàn)壓增Ω₹加快(kuài)得(de)多(duō)，如(rú)AB段，到(dào)B點後，∏‌‍ 如(rú)果電(diàn)壓繼續再增加，則電(diàn)流将急劇(jù)增長(★→cháng)，産生(shēng)更多(duō)的(de)損耗，以緻絕緣被破壞，發生(shēn↑¶↔λg)擊穿。在預防性試驗中，測量洩漏電(diàn)流↕® 時(shí)所加的(de)電(diàn)壓大(dà)都(dōu)在A點以下(xià)。

圖1-2 絕緣的(de)伏安特性

将直流電(diàn)壓加到(dào)絕緣上(sh¥™∑àng)時(shí)，其洩漏電(diàn)流是(shì)不(α€bù)衰減的(de)，在加壓到(dào)一(yī)定時(shí)間(jiān)後，微(wēi)安表♣←‌"的(de)讀(dú)數(shù)就(jiù)等于洩漏電(diàn)流值。絕緣良好(÷≤hǎo)時(shí)，洩漏電(diàn)流和(hé)電(diàn)壓的(de)關系幾乎呈✔®一(yī)直線，且上(shàng)升較小(±←xiǎo)；絕緣受潮時(shí)，洩漏電(diàn×δ¶σ)流則上(shàng)升較大(dà)；當絕緣有(yǒu)貫通(tōng)性缺陷時(shα☆"í)，洩漏電(diàn)流将猛增，和(hé)電γ★∞♥(diàn)壓的(de)關系就(jiù)不(bù)是(shì)直線了(le)。通(tō'≠ng)過洩漏電(diàn)流和(hé)電(di↓↑↕àn)壓之間(jiān)變化(huà)的‌≠$®(de)關系曲線就(jiù)可(kě)以對(d♦ε✘ uì)絕緣狀态進行(xíng)分(fēn)析判斷。

圖1-3 洩漏電(diàn)流和(hé)電(di✘£λ♥àn)壓的(de)關系曲線  圖1-4 洩漏電(diàn)流和(hé)時(€§​shí)間(jiān)的(de)關系曲線

2、影(yǐng)響測量結果的(de)主要(yào)因素

(1)高(gāo)壓連接導線

由于接往被測設備的(de)高(gāo)壓π®導線是(shì)暴露在空(kōng)氣中的(de)，當其表面場(c>® →hǎng)強高(gāo)于約20kV/cm時(shí)，沿導線表面的(de)空(kōng)氣發生♣δ§↔(shēng)電(diàn)離(lí)，對(duì)地(dì)有(yǒu)一(yī"​)定的(de)洩漏電(diàn)流，這(zhè)一(yī)部分(fēn)電(σ↔‍✔diàn)流會(huì)流過微(wēi)安表，因而影(yǐng)響測量結果的(de)準确度。

一(yī)般都(dōu)把微(wēi)安表固定在ZC-501€>‌λA試驗變壓器(qì)的(de)上(shàng)端，這(zhè)時(shí)就(jiù)™ 必須用(yòng)屏蔽線作(zuò)為(wèi)引線，用(yε™•>òng)金(jīn)屬外(wài)殼把微(wēi)安表屏蔽起來€ ↓±(lái)。電(diàn)暈雖然還(hái)照(zh©≈‌≤ào)樣發生(shēng)，但(dàn)隻在屏∏✘↔§蔽線的(de)外(wài)層上(shàng)産生(shēng)電(diàn)暈電(diàn)流↓ ‌，而這(zhè)一(yī)電(diàn)流就(jiù)不(bù)會(huì)流過微(wē∏←σβi)安表，防止了(le)高(gāo)壓導線電(diàn)暈放(fàn→↑↑★g)電(diàn)對(duì)測量結果的¶$★(de)影(yǐng)響。

根據電(diàn)暈的(de)原理(lǐ)，采取用(yòng)粗而短§↑☆♣(duǎn)的(de)導線，并且增加導線對(duì)地(×®↑dì)離(lí)，避免導線有(yǒu)毛刺等措施，可₹ ∑(kě)減小(xiǎo)電(diàn)暈對(duì)測量結果的(de)'σ₹影(yǐng)響。

(2)表面洩漏電(diàn)流

圖1-5 通(tōng)過被試設備的(de)體(tǐ)積洩漏電(diàn)流和(✔≠☆∏hé)表面洩漏電(diàn)流及消除示意圖
（a）未屏蔽；（b）屏蔽

反映絕緣內(nèi)部情況的(de)是(shì)體(tǐ)積洩露電(diàn)流。但(δ™dàn)是(shì)在實際測量中，表面洩露電(diàn)流往往大(dà¶λ)于體(tǐ)積洩漏電(diàn)流，這(zhè)給分(fēn)析、判斷被試•​設備的(de)絕緣狀态帶來(lái)了(le)困難，因而必須消₹"除表面洩漏電(diàn)流對(duì)真實測量結果的(±"↓ de)影(yǐng)響。

消除的(de)辦法是(shì)使被試設備表面幹燥、清潔、且高(g'÷♣āo)壓端導線與接地(dì)端要(yào)£"§保持足夠的(de)距離(lí)；另一(yī)種是(shì)采用(yòng)屏 φ​↕蔽環将表面洩漏電(diàn)流直接短(duǎn)接，使之不(bùβ×≤)流過微(wēi)安表。

(3)溫度

溫度對(duì)洩漏電(diàn)流測量結果有(yǒ‌σ u)顯著影(yǐng)響。溫度升高(gāo)，洩漏電 Ω(diàn)流增大(dà)。

測量最好(hǎo)在被試設備溫度為(wèi)30～80℃時(shí)進行(xíng)。因為(↔±wèi)在這(zhè)樣的(de)溫度範圍內(nèi)，洩漏電(diàn)流的(γ¶de)變化(huà)較為(wèi)顯著，而在低(dī)溫時(shí)變化(huà)小(xiǎo)®ε，故應在停止運行(xíng)後的(de)熱(rè)狀态下(xi ♦à)進行(xíng)測量，或在冷(lěn↕☆g)卻過程中對(duì)幾種不(bù)同溫度下(xià)的(de)洩漏電(diàn)流 ↔σ進行(xíng)測量，便于比較。

(4)電(diàn)源電(diàn)壓的(de)非正弦波形

在進行(xíng)洩漏電(diàn)流測量時(shí§★)，如(rú)果供給整流設備的(de)交流低(dī)壓不(bù)是(shì)正弦波，則對(du ‌≥←ì)測量結果有(yǒu)影(yǐng)響。影(yǐng¶♦‍∏)響電(diàn)壓波形的(de)主要(yào≠'§←)是(shì)三次諧波。

在洩漏電(diàn)流測量中，調壓器(qì)對(d∞☆uì)波形的(de)影(yǐng)響也(yě)是(shì)很(hěn)多(duō)的("♦←de)。實踐證明(míng)，自(zì)耦變壓器(qì)畸變小(xiǎo)，損耗≠♠λ也(yě)小(xiǎo)，故應盡量選用(yòng)自<¶(zì)耦變壓器(qì)調壓。另外(wài)，在選擇電(diàn)源時(shí)，最好(h₩δ$≤ǎo)用(yòng)線電(diàn)壓而不(bù)用(yòng)相(xiàng)電(diàn)壓♣§&，因相(xiàng)電(diàn)壓的(de)波形易畸變。

如(rú)果電(diàn)壓是(shì)直接在高(gāo)壓直流側測量的(de)，則上(shà↑♥♠ng)述影(yǐng)響可(kě)以消除。

(5)加壓速度

對(duì)于電(diàn)纜、電(diàn)容器(qì)等設備來(lái)說(shu☆≠←ō)，由于設備的(de)吸收現(xiàn)象很(hěn)強，這(zhè)是(s→≈hì)的(de)洩漏電(diàn)流要(yào)經過很(hě✘÷×★n)長(cháng)的(de)時(shí)間(jiān)Ω×π<才能(néng)讀(dú)到(dào)，而在測量時(shí)，又(yòu)不(bù)可(kě)能(₽☆néng)等很(hěn)長(cháng)的(de)時(shí)間(jiān)，大(dà)都(dōuδ<)是(shì)讀(dú)取加壓後1min或2min時(shí)的(de)電(diàn)流值Ω±φ ，這(zhè)一(yī)電(diàn)流顯然還(hái)包含著(zhe)被試設備的 λ®‍(de)吸收電(diàn)流，而這(zhè)一(yī)部分(fēn)吸收電(diàn)流是(s¶¶ hì)和(hé)加壓速度有(yǒu)關的(de)。如(rú)果電(di< β®àn)壓是(shì)逐漸加上(shàng)的(de)，則在加壓的(d¥σ ≈e)過程中，就(jiù)已有(yǒu)吸收過程，讀(dú)得(de)的(₩‍←de)電(diàn)流值就(jiù)較小(xiǎo)，如(rú)果電(diàn♣÷↑)壓是(shì)很(hěn)快(kuài)加上(shà€βng)的(de)，或者是(shì)一(yī)≤™∞下(xià)子(zǐ)加上(shàng)的(↔×de)，則在加壓的(de)過程中就(jiù)沒有(yǒu)完λ™φ¥成吸收的(de)過程，而在同一(yī)時(shí)間(jiān)下₩≤×(xià)讀(dú)得(de)的(de)電(diàn)流就(jiù)會(huα&ì)大(dà)一(yī)些(xiē)，對(duì)于電(dλ ε✘iàn)容大(dà)的(de)設備就(jiù)是(shì)如(rú)此，而對(★♦>¶duì)電(diàn)容量很(hěn)小(xiǎo)的(de)設備​©，因為(wèi)他(tā)們沒有(yǒu)什(shén•>∞σ)麽吸收過程，則加壓速度所産生(shēng)的(de)影(yǐng)響←&¶就(jiù)不(bù)大(dà)了(le)。

(6)微(wēi)安表接在不(bù)同位置

在測量接線中，微(wēi)安表接的(de)位置不(bù)同，測得(de)的(de)洩漏電(☆↑diàn)流數(shù)值也(yě)不(bù)同，因而對(duì)測量ε$>★結果有(yǒu)很(hěn)大(dà)影(yǐng)響。主要(yào)是☆✔§π(shì)受雜(zá)散電(diàn)流影(yǐn​™g)響最大(dà)。

①接于ZC-501A試驗變壓器(qì)一(yī)次繞組尾部，即uA₁位置。這(zhè)種接線的(de)微(wēi)安表處于低(dī)電​ →(diàn)位，具有(yǒu)讀(dú)數(shù)安全、切換量程方便的(de)優點π®<★。缺點是(shì)高(gāo)壓導線等對(du☆₽≈ì)地(dì)的(de)雜(zá)散電(diàn)流均通(tōng)過微(wēi)安表♦←，測量結果誤差較大(dà)。

可(kě)選用(yòng)絕緣較好(hǎo)的(de)試驗變壓器(qì)，試₹γ₩&驗變壓器(qì)一(yī)次側對(duì)地(dì)及一(yī)、二次側之間(jiān)雜(z‍↕¥☆á)散電(diàn)流的(de)影(yǐng)響就(jiù)可(kě)以大(dà)大(dà)減小€≈(xiǎo)。另外(wài)，還(hái)可§φ★(kě)将高(gāo)壓進線用(yòng)多(duō)層塑料管套上(shàng)，被試設 ↕↔'備的(de)裸露部分(fēn)用(yòng)塑料、橡皮之類絕緣物(wù)覆蓋上(shàng↓<δ)，能(néng)提高(gāo)測量的(de)準确度。

②微(wēi)安表接在試品高(gāo)壓端，即uA位置。這∞✘≤ (zhè)種接線的(de)優點是(shì)測出的(de)洩漏電(diàn)流準确，排'φ€∞除了(le)部分(fēn)雜(zá)散電(diànΩ©♦)流的(de)影(yǐng)響，接線簡單。缺點是(shì)微(wēi)安表處于高(φε±σgāo)電(diàn)位，必須有(yǒu)良>γ好(hǎo)的(de)絕緣屏蔽；微(wēi)安表位置距試驗人(rén)員(yuán)較遠(yu©→ǎn)，讀(dú)數(shù)不(bù)便，更換量程不(bù)易。在被試品接地∞→​(dì)端無法斷開(kāi)時(shí)常采用(yòng)這(zhè)種接線。

③微(wēi)安級電(diàn)流表接在試品低(dī)壓端，即uA₂位置。

當被試品的(de)接地(dì)端能(néng)與地(dì)斷σ♣開(kāi)并有(yǒu)絕緣時(shí)，采用(yòng)這(zhè≈© δ)種接線。微(wēi)安表處于被試設備低(dī)電(diàn)位端。此位置處​☆→★除受表面洩漏的(de)影(yǐng)響外(wài)，不(bù)受雜(zá)散電(diàn)流的(dδ÷÷e)影(yǐng)響。讀(dú)數(shù)、切換量程方便，屏蔽容易。

圖1-6 微(wēi)安表接在不(bù)同位置時(shí)的(de)分(fēn)析圖

上(shàng)述3種方法，有(yǒu)人(rén)在同1台定子(zǐ)繞組上(shàng)進行↕♣(xíng)了(le)測量比較，其試驗數(shù)據（uA）如(rú)下(xi←$₩§à)：

第1種方法所測數(shù)據明(míng)✔¶↔顯偏大(dà)，第2、第3種方法在屏蔽良Ω₩λ×好(hǎo)的(de)情況下(xià)數(shù)據基本相(xiàng)同。如(rú)采用($≥yòng)第1種接線方法，應采取措施消除雜(zá)散電(diàn)流。

(7)試驗電(diàn)壓極性

①不(bù)同極性試驗電(diàn)壓下(xià)油紙(zhǐ)™γ∏絕緣電(diàn)氣設備的(de)洩漏電(diàn)流測量值不(bù)同。

電(diàn)纜或變壓器(qì)的(de)絕緣受潮通(tōng)常是(shì)從(cón™♦g)外(wài)皮或外(wài)殼附近(jìn)開(kāi)始的(de)。根據電(diàn)滲₩§<現(xiàn)象，電(diàn)纜或變壓器(qì)的(de)絕緣中的(d¥≥♥¶e)水(shuǐ)分(fēn)在電(diàn)場(chǎng)作(zuò)用(yònΩ' ≥g)下(xià)帶正電(diàn)，當電(d© iàn)纜心或變壓器(qì)繞組加正極性電(diàn)壓時(shí)，絕緣中的(d‌•δe)水(shuǐ)分(fēn)被其排斥而滲向外(wài)皮或外(wài)≈Ω<&殼，使絕緣中水(shuǐ)分(fēn)含量相(xiàng)對(duì)減♥ 小(xiǎo)，從(cóng)而導緻洩漏±€•電(diàn)流減少(shǎo)；當電(diàn)纜心或變壓器(qì)繞組加負極性電(diàn)壓時(shí)，絕緣中的(de)水(shuǐ)分(fēn)↕Ω​會(huì)被其吸引而滲過絕緣向電(diàn)纜心或變壓器(qì)繞組移動，使 ε>其絕緣中高(gāo)場(chǎng)強區 &®♥(qū)的(de)水(shuǐ)分(fēn)相(xiàn'φg)對(duì)增加，導緻洩漏電(diàn)流增大(dà)。

試驗電(diàn)壓的(de)極性對(duì)新的(de)電(diàn)纜和(hé)變壓器(q ↔ì)的(de)測量結果無影(yǐng)響。因為(wèi)新電(diàn)纜和(hé)變壓器( ✘↓εqì)絕緣基本沒有(yǒu)受潮，所含水(shuǐ)分(fēn)甚微(wēi)。

試驗電(diàn)壓的(de)極性對(duì)舊(ji☆α≠✘ù)的(de)電(diàn)纜和(hé)變壓器(qì)的™←(de)測量結果有(yǒu)明(míng)顯的(de)≤‌λ 影(yǐng)響。

②試驗電(diàn)壓極性效應對(duì)引線電(diàn)暈電(diàn)流$©的(de)影(yǐng)響

在不(bù)均勻、不(bù)對(duì)稱電(diàn)×≠ ₹場(chǎng)中，外(wài)加電(diàn)壓極性不(bù)同，其放(fàng)電¥®(diàn)過程及放(fàng)電(diàn)電(dià×÷n)壓不(bù)同的(de)現(xiàn)象≠₹δ，稱為(wèi)極性效應。

在進行(xíng)直流洩漏電(diàn)流試驗時(shí)，其高(gāo)壓引線β 對(duì)地(dì)構成的(de)電(diàn)場(chǎng)可(kě)等效®→$為(wèi)棒—闆電(diàn)場(ch÷σ§ǎng)，當試驗電(diàn)壓為(wèi)負極性時(shí)， ♦電(diàn)暈起始電(diàn)壓較低(dī)，此時(shí)對(duì)電(±♥ ™diàn)暈電(diàn)流影(yǐng)響較大(dà)。從(cóng)這(zhφ$¶è)個(gè)角度而言，測量洩漏電(diàn)流較小(xiǎo)的(ε∑de)設備（如(rú)少(shǎo)油斷路(lù)器( <​qì)等）時(shí)，宜采用(yòng)正極性試驗電(diàn)壓。

3、測量時(shí)的(de)操作(zuò)規定

①按接線圖接好(hǎo)線，并由專人(rén)認真檢查Ω™接線和(hé)儀器(qì)設備，當确認無誤後，方可(kě)通(tōng)電(‌‌'✔diàn)及升壓。

②在升壓過程中，應密切監視(shì)被試設備、實驗回路(lù)及有Ω₽γσ(yǒu)關表記。微(wēi)安表的(de)讀(dú)數(shù)應在升壓‌≥π過程中，按規定分(fēn)階段進行(xíng)，且需要(yào)有(>γ★∑yǒu)一(yī)定的(de)停留時(shí)間(jiān)，以避開(kāi)吸收•♦電(diàn)流。

③在測量過程中，若有(yǒu)擊穿、閃絡等異常現(xiàn)象發生(shēng)，應馬上(​®™shàng)降壓，以斷開(kāi)電(diàn)源，并查明(míng)©∞ ‍原因，詳細記錄，待妥善處理(lǐ)後，再繼續測量。

④實驗完畢、降壓、斷開(kāi)電(diàn)源後，均應對(duì)被試設備進αφ行(xíng)充分(fēn)放(fàng)電(diàn)。

放(fàng)電(diàn)前先将微(wēi)安表短(duǎnδ≠‌)接，并先通(tōng)過有(yǒu)高(gāo)阻值電(diàn)<©✔★阻的(de)放(fàng)電(diàn)棒放(fàng)電(diàn)，然後直接接地☆α¶(dì)，否則會(huì)将微(wēi)安表燒壞，例如( §→αrú)在圖1-6中，無論在哪個(gè)位置 ♥∑放(fàng)電(diàn)，都(dōu)會(hu€↓ ì)有(yǒu)電(diàn)流流過微(wēi)安表，即使微(wēi)安表短(duβγǎn)接，也(yě)發生(shēng)由于沖擊而燒表現∏¶∞©(xiàn)象，因此必須嚴格執行(xín♣¥♥g)通(tōng)過高(gāo)電(diàn)阻放(fàn¶₽‍g)電(diàn)的(de)辦法，而且還(hái)應注意放(fàng'γ₹®)電(diàn)位置。對(duì)電(diàn)纜、變★≤壓器(qì)、發電(diàn)機(jī)的(de)放(fàng)電(di β<∞àn)時(shí)間(jiān)，可(kě)以其容量☆≥ '大(dà)小(xiǎo)由1min增至3min，電(diàn)力電(dià↕₽↔n)容器(qì)可(kě)長(cháng)至5min，除此之外(wài)，還(hái)應注​→意附近(jìn)設備有(yǒu)無感應靜(jìng)電(d£β<♠iàn)電(diàn)壓的(de)可(kě)能(néng)，必要(yào)時(shí)也(yě)應™÷‍放(fàng)電(diàn)或預先短(duǎn)接。

⑤若是(shì)三相(xiàng)設備，​₽ 同理(lǐ)應進行(xíng)其它兩項測量。

⑥按照(zhào)規定的(de)要(yào)求進行(xíng)← 詳細記錄。

4、測量中的(de)問(wèn)題

在電(diàn)力系統交接和(hé)預防性實驗中，測量洩漏電(∞"diàn)流時(shí)，常遇到(dào)的(de)主要(yào)異常情況如(rú)下(xià)₩‌↓。

(1)從(cóng)微(wēi)安表中反映出來(lΩ♦&→ái)的(de)情況

①指針來(lái)回擺動。

這(zhè)可(kě)能(néng)是(shì)由于電(diàn)源波動、整流後直流♠σ電(diàn)壓的(de)脈動系數(shù)比較大(dà)以及試驗回路(±♦±∞lù)和(hé)被試設備有(yǒu)充放(fàng)電(diàn)過程所緻<'。若擺動不(bù)大(dà)，又(yòu‌☆)不(bù)十分(fēn)影(yǐng)響讀(dú)數(shù₩α'♥)，則可(kě)取其平均值；若擺動很(hěn)大(dà)，影(yǐng)響¥₽讀(dú)數(shù)，則可(kě)增大(dà)主回路(lù)和(hé)$λ保護回路(lù)中的(de)濾波電(diàn)容的(de)電(diàn)容量。必要(yào)÷σ時(shí)可(kě)改變濾波方式。

②指針周期性擺動。

這(zhè)可(kě)能(néng)是(shì)由于回路(lù)存在的↑♥&(de)反充電(diàn)所緻，或者是(shì)被試設備絕緣不(bù)良産生(shēng)≈✔§σ周期性放(fàng)電(diàn)造成的(de)。

③指針突然沖擊。

若向小(xiǎo)沖擊，可(kě)能(né‌ ng)是(shì)電(diàn)源回路(lù♣ )引起的(de)；若向大(dà)沖擊，可(kě)能(néng)是<±•(shì)試驗回路(lù)或被試設備出現(xiàn)​&→ 閃絡或産生(shēng)間(jiān)歇性放(f₹λ‌±àng)電(diàn)引起的(de)。

④指針指示數(shù)值随測量時(shí)間(ji©‍ān)而發生(shēng)變化(huà)。

若逐漸下(xià)降，則可(kě)能(néng)是(shì)由于充電(d∞ iàn)電(diàn)流減小(xiǎo)或被試設備表面絕緣電(diàn)π£π阻上(shàng)升所緻；若逐漸上(shàng)升§♣→，往往是(shì)被試設備絕緣老(lǎo)化(huà)引起的(de)。
遇到(dào)③、④兩種情況時(shí)，一(yī)般應立即降低(dī)電(diàn)☆ Ω壓，停止測量，否則可(kě)能(néng)導緻被試設備擊穿。

⑤測壓用(yòng)微(wēi)安表不(bù)規則擺動。這(zhè)可(k♥β×ě)能(néng)是(shì)由于測壓電(diàn)阻斷線或接觸不(bù)良所緻。

⑥指針反指。這(zhè)可(kě)能(néng)是(shì)由于被試設備經測壓電(dλα™iàn)阻放(fàng)電(diàn)所緻。

⑦接好(hǎo)線後，未加壓時(shí)，微(wēi)安表有(₽↑&yǒu)指示。這(zhè)可(kě)能(néng)是(  ₩♥shì)外(wài)界幹擾太強或地(dì)電(diàn)位擡φ↕高(gāo)引起的(de)。

(2)從(cóng)洩漏電(diàn)流數(shù)值上(shàng)反映出來(lái)的¥✔₽(de)情況

①洩漏電(diàn)流過大(dà)。這(zhè)可(kě)能(néng)是(shì)由于測量回路∑≤®(lù)中各設備的(de)絕緣狀況不(bù)佳或屏蔽不(bù)好(hǎo)♥<所緻，遇到(dào)這(zhè)種情況時(shí)，應首先對(duì<≥)實驗設備和(hé)屏蔽進行(xíng)認真檢查， →例如(rú)電(diàn)纜電(diàn)流偏大(dà)應先檢查屏蔽。若确認無上↓‍ (shàng)述問(wèn)題，則說(shuō)明(míng)被≠←$試設備絕緣不(bù)良。

②洩漏電(diàn)流過小(xiǎo)。這(zhè)可(kě)能(n£ éng)是(shì)由于線路(lù)接錯(cuò)，微(wēi)安表保護部分(f±σ"≈ēn)分(fēn)流或有(yǒu)斷脫現(xi•​àn)象所緻。

③當采用(yòng)微(wēi)安表在低(dī)壓側讀(dú)數(s $hù)，且用(yòng)差值法消除誤差時(shí)，可(kě)能(n↕♥↓€éng)會(huì)出現(xiàn)負值。這(zhè)可(kě)能(néng)是(shλ•♣ì)由于高(gāo)壓線過長(cháng‍™×)、空(kōng)載時(shí)電(diàn)暈電(diàn)流大(dà)所緻。因此高(♦€gāo)壓引線應當盡量粗、短(duǎn)、無毛刺。

(3)矽堆的(de)異常情況

在洩漏電(diàn)流測量中，有(yǒu)時(shí)發™∑生(shēng)矽堆擊穿現(xiàn)象，這(zhè)是(shì)&σ☆由于矽堆選擇不(bù)當、均壓不(bù)良或質量不(bù)佳所緻。為(‍σwèi)防止矽堆擊穿，首先應正确選擇矽堆，使矽堆 α☆☆不(bù)緻在反向電(diàn)壓下(xià)擊穿；其次應采↑®÷用(yòng)并聯電(diàn)阻的(de)方法對(duì)矽堆串進行(xí"σ∞₹ng)均壓，若每個(gè)矽堆工(gōng)作∞δ×∞(zuò)電(diàn)壓為(wèi)5kV時(shí)，每個(gè)并聯電(diàn)阻✔‌常取為(wèi)2 。

5、測量結論

對(duì)某一(yī)電(diàn)氣設備進行(xδ ÷íng)洩漏電(diàn)流測量後，應對(duì)測量結果進行(xíng)認真、全面地(dì)分(→±"fēn)析，以判斷設備的(de)絕緣狀況，做(zuò)出結論是©↔<(shì)合格或不(bù)合格。對(duì)洩漏電(diàn)流測量結果進行(↑₽ ‍xíng)分(fēn)析、判斷可(kě)從(cóng)下(xià)述幾方₩γ"面著(zhe)手。

(1)與規定值比較

洩漏電(diàn)流的(de)規定值就(jiù)是(shì"↑♦)其允許的(de)标準，它是(shì)在生(shēng)産實踐中根據積累多(du↔α₹ō)年(nián)的(de)經驗制(zhì)訂出來(lái) ♠的(de)，一(yī)般能(néng)說(shuō)明(míng)絕緣狀況。對(duì)于一(y≠§ī)定的(de)設備，具有(yǒu)一(yī)定的(de)規定标準。這(zhè≤ § )是(shì)最簡便的(de)判斷方法。

(2)比較不(bù)對(duì)稱系數(shù)β"£≠法

在分(fēn)析洩漏電(diàn)流測量結果時(sh σí)，還(hái)常采用(yòng)不(bù)對(duì)稱系數(shù)（即三相(xiàng)之₽₽‌£中的(de)最大(dà)值和(hé)最小(xiǎo)值的(de)比）進行(xíng)分(fēn)‍$♦析、判斷。一(yī)般說(shuō)來(lái)不(bù)對$☆←(duì)稱系數(shù)不(bù)大(dà)于2。

(3)查看(kàn)關系曲線法

在試驗電(diàn)壓下(xià)，洩漏電(diàn)流與電(diàn)壓的(de)×σ關系曲線是(shì)一(yī)近(jìn)似直線，那(nà)就(jiù)說(shuō♥↓→¥)明(míng)絕緣沒有(yǒu)嚴重缺陷，如(rú)果是(shì)曲線，而且形狀陡峭，則說φ★↕™(shuō)明(míng)絕緣有(yǒu)缺β ≠¶陷。

(4)空(kōng)載電(diàn)流對(duì)試驗結果的(de)影∑ £™(yǐng)響

如(rú)果試驗時(shí)天氣比較潮濕，絕緣支架受潮、試驗回路&€≤'(lù)有(yǒu)尖端毛刺，等尖端放(fàng)電(diàn<←)現(xiàn)象存在，則不(bù)加被試品就(jiù)有(yǒuγ←↕)較大(dà)的(de)空(kōng)載洩漏電(diàn)'↓÷流存在，對(duì)試驗結果會(huì)造成較大(dà✔¶)的(de)影(yǐng)響，有(yǒu)些(xiē)人(rén)☆✘Ω會(huì)用(yòng)先測一(yī)下(xià→≤✔)空(kōng)載電(diàn)流，然後再加上(shàng)被試品測出負載試驗洩漏電(diàn♣≈)流，用(yòng)負載試驗洩漏電(diàn)流減去(qù)空δ✘↕(kōng)載洩漏電(diàn)流的(de)辦Ω₽↑✔法進行(xíng)校(xiào)正，實際上(shàng)這(zhè)是(shì®α)不(bù)科(kē)學的(de)，因為(wèi)帶上(shàng)被試品後會( &φhuì)改變電(diàn)位分(fēn)布，有(yǒu)時(shí)會(huì)出負載試驗洩¶≠$Ω漏電(diàn)流小(xiǎo)于空(kōng)載洩漏電(diàn)流的(de)現(xiàn)象。®✔α↔

正确的(de)做(zuò)法是(shì)，先不(bù)帶負載α>α¥，加壓到(dào)額定值，看(kàn)空(kōng)載洩漏電(diàn¥∏ ‌)流在什(shén)麽水(shuǐ)平，'≈如(rú)果較小(xiǎo)可(kě)以忽略不(bù)計(jì)，如(rú)果較大(dà)，則₹↔♦®應排除造成空(kōng)載洩漏電(diàn)流較大(dà)的(de)原因，如×‍∑(rú)清擦或烘幹絕緣支架，改變微(wēi)安表的(de)位置，清除試驗回路(lù)的(♦γde)尖端毛刺，直到(dào)空(kōng)載洩漏電(diàn)流合格為 ​©₽(wèi)止。