互感器(qì)勵磁特性試驗的(de)目的(de)是(shì)檢測互感器∑ ≈(qì)鐵(tiě)芯的(de)磁性能(n÷∑'éng):飽和(hé)點、飽和(hé)點之前的(de)B-H線性程度;也(yě)即需要(yào)σ"φ↓測出互感器(qì)勵磁電(diàn)壓、電(diàn)流的(de)對(duì)應關系,以及飽£♠和(hé)點(拐點)處的(de)電(diàn)壓、電(diàn)φ≈ 流值。
依據的(de)國(guó)标有(yǒu):
《GB1208 2006 電(diàn)流互感器(qì)》(對(duì)應于歐标《IEΩ×₩C60044-1》
《GB1207 2006電(diàn)磁式電(diàn)壓互感器(qì)》↑♠∏δ(對(duì)應于歐标《IEC60044-1》)
《GB16847 -1997 保護用(yò≥₩ng)電(diàn)流互感器(qì)暫态特性技(jì)術(shù)要(yào)求》♥₽Ω(對(duì)應于歐标《IEC60044-6》)
這(zhè)些(xiē)标準都(dōu)明(míng)确的(d¥™φe)規定了(le)互感器(qì)出廠(chǎng)試驗、交接試驗需要(yào)做(β¥↔zuò)互感器(qì)勵磁特性試驗。
标準《JB/T 5356:2002 電(diàn)流互感器(qì)<÷&試驗導則》規定了(le)勵磁特性的(de&≥₹✔)試驗方法如(rú)下(xià):
随著(zhe)互感器(qì)的(de)變比越來(lái)越©≥大(dà),互感器(qì)的(de)拐點電(diàn)壓越來(lái)越高(gāo),尤其是(sh₩λì)暫态互感器(qì)(TPY、TPYS等)的(de)拐點都(dōu)在10kV以上(shàn<×g),用(yòng)傳統的(de)工(gōng)頻(pín)試驗方法☆ $<将造成互感器(qì)的(de)二次繞組擊穿、損壞,所以IEC60044-6标↔>>準(對(duì)應國(guó)家(jiā)✘♥₩✘标準GB16847-1997)規定,CT的(de)測試可(kě)以在比額定頻(pín)率低(d♦≠$≈ī)的(de)情況下(xià)進行(xíng),避免繞組和(hγγ©é)二次端子(zǐ)承受不(bù)能(néng)容許的(×de)電(diàn)壓。
同樣《JB/T 5356:2002 電(diàn)流互感器(qì)試驗導&®γ↕則》也(yě)規定了(le)采用(yòng)低(dī)頻(pín)法÷¶$測試的(de)方法。這(zhè)也(yě©&✘)就(jiù)是(shì)變頻(pín)法互感器(qì)測試儀逐漸推廣的(de)原因。
變頻(pín)法測試互感器(qì)的(de)原理(lǐ)如(rú)下(xià):
根據法拉第電(diàn)磁感應定律,鐵(tiě)≤→∑芯磁通(tōng)與兩端的(de)感應電(diàn)壓的§≥δ(de)關系如(rú)下(xià):
E=4.44*ƒ*Φ
從(cóng)上(shàng)面公式可(k♣¶ ě)知(zhī),當降低(dī)頻(pín)率ƒ時(<§shí),同樣的(de)磁通(tōng)Φ∏✔所産生(shēng)的(de)感應電(diàn)壓E也(yě)将成比例的(de )降低(dī)。
也(yě)即,在降低(dī)試驗頻(pín)率的(de)情況下(xià),≤∏®™施加較低(dī)的(de)電(diàn)壓就(jiù$→)可(kě)以讓互感器(qì)鐵(tiě)芯達到(dào)飽和(hé)狀λ €态。
我公司研發生(shēng)産的(de)CTP-1000系列變頻(pín)式互感器(qì)測試儀也(yě)正是(shì)根據上(shàng)面的(de)原理(lǐ)在低(dī)頻(p♠<₩ín)的(de)電(diàn)壓下(xià↑γ✔)進行(xíng)測試,把試驗結果折算(suàn)到(dào)工(±×gōng)頻(pín)電(diàn)壓。
二次是(shì)1A的(de)互感器(qì),其拐點電(diàn)流±©肯定小(xiǎo)于1A;
二次是(shì)5A的(de)互感器(qì),其拐點電(diàn≈≤≈)流肯定小(xiǎo)于5A;
所以從(cóng)理(lǐ)論上(shàng)來(lái)說(shuō),輸出 •'±電(diàn)流隻要(yào)達到(dào)5A 就(jiù)可(kě)以×€©滿足所有(yǒu)互感器(qì)的(de)測試;
我司CTP-1000系列變頻(pín)式互感器(qì)測試儀的(de)輸出電(diàn)壓為(wèi)0~<↕↔←180V、電(diàn)流為(wèi)0~12A,峰值電(diàn)流最大(dà)36≈↔A。
由于使用(yòng)變頻(pín)測試的(de)技(jì)術(shù),$測試互感器(qì)的(de)勵磁特性直到(dào)飽和(hé)拐點,不(bù)再像工(σ☆δgōng)頻(pín)法那(nà)樣單純的(de)增加♥↕→試驗電(diàn)壓,變頻(pín)法測試時(shí)可(kě)以通( ∞tōng)過調整試驗頻(pín)率在低(dīδ¥∏)壓、低(dī)頻(pín)下(xià)測試,結果折算(suàn)到(Ω✘β÷dào)工(gōng)頻(pín)狀況下(xià)。
目前市(shì)面上(shàng)電(diàn)壓普遍在120V~36$φ0V之間(jiān)。
從(cóng)對(duì)被試品和(hé)試驗的(≥§de)安全的(de)角度看(kàn),試驗電(diàn)壓盡量低(dī)∏σ↓≤一(yī)些(xiē)。試驗電(diàn)壓越低(dī)、而試驗又(yòu)要(y♦♥ào)達到(dào)很(hěn)高(gāo)拐€φφα點電(diàn)壓的(de)目的(de),就(jiù)需要(yào)更寬的(de)變頻®☆ (pín)範圍,也(yě)就(jiù)是(shì)說(shuō)試驗電(diàn)壓越低(dī)時↔φ (shí),設備的(de)變頻(pín)範圍需要(yào↓₽)越寬,對(duì)設備的(de)技(jì)術(shù)水(shuǐ)•≥♠平要(yào)求越高(gāo)。
OMICRON(歐米克朗)的(de)CT分(fēn)析儀是(shì)在國(guó)內(n±≠♦₽èi)推廣最早的(de)變頻(pín)式互感器(qì)測試♦≥≤¥産品,其輸出參數(shù)如(rú)下(xià):
從(cóng)上(shàng)面可(kγσě)以看(kàn)出,歐米克朗的(de)CT分(fēn)析儀輸出電(diàn)壓範圍0~120V>§、電(diàn)流0~5A;這(zhè)即滿足試驗要(yào)求,且能(néng)保Ω↓證現(xiàn)場(chǎng)試驗人(rén)員(yuán)、設備的(de)安全φ↓$。
例如(rú)測量PT的(de)勵磁特性時(shí),PT二次的(de)額定電(dià &εσn)壓100V,即便試驗人(rén)員(♥↕yuán)設置錯(cuò)誤(設置最大(dà)勵磁電(diàn)壓200V),儀器(qì)εε©₹最大(dà)輸出電(diàn)壓120V,相(xiàng)當于PT在120%額定電(diàn)★α♥λ壓下(xià)的(de)耐壓試驗,也(yě)¶₽↑¥不(bù)會(huì)損壞PT,如(rú)果儀器(qì)最大(dà)輸出200V時§¥ δ(shí),讓PT承受了(le)額定電(diàn)壓的(de)200%的(λ←♣÷de)電(diàn)壓,容易對(duì)試品造成擊穿。
國(guó)內(nèi)最早上(shàng)市(shì)的(de)産品,其輸出¥電(diàn)壓、電(diàn)流基本與歐'∞米克朗相(xiàng)似,最大(dà)電(diàn)壓12'δ←0~160V,最大(dà)電(diàn)流5~6A,随著(zhe)競争以及用(yòngλ≤Ω¥)戶對(duì)該種産品的(de)誤解,以為(wè∑<≥i)肯定是(shì)輸出電(diàn)壓、電(diàn)流越高(gāo& ₹)越好(hǎo),于是(shì)出現(xiàn)了(le)電(diàn)壓π±、電(diàn)流在不(bù)斷地(dì)加大(dà),最大(dà)加大(dà)到(dào)∞β360V、電(diàn)流最大(dà)到(dào)36A。從(có•∞ng)實際需求出發,電(diàn)流5A足夠,而試驗電(diàn)壓越低(dī)對(d≤'∏uì)現(xiàn)場(chǎng)試驗人(rén)員(yuán)、被試品更安←☆γ全。