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高(gāo)壓開(kāi)關導電(diàn)回₹ ≥路(lù)接觸電(diàn)阻測量方法

時(shí)間(jiān):2018-01-09 閱讀(dú): 次 來(lái)源:中谷測控
文(wén)章(zhāng)标題:高(gāo)壓開(kāi)關導電(diàn♦←δ)回路(lù)接觸電(diàn)阻測量方法關  鍵 詞:高(gāo)壓開(kāi)關導電(diàn)回路(lù)電(diàn)阻,高(gāo)₩​壓開(kāi)關導電(diàn)回路(lù)電(diàn)阻接觸α€ε測量方法概      述:運行(xíng)中動,靜(jìng),觸頭之間≈β(jiān)的(de)接觸電(diàn)阻往往會(huì)增大(dà),使正常運行(✔↓♣xíng)工(gōng)作(zuò)電(diàn)流下(∞×xià)發生(shēng)過熱(rè),尤其是(shì)通≤←♦€(tōng)過短(duǎn)路(lù)電(diàn)流時(shí),觸頭發熱(rè)更‍™¥嚴重,可(kě)能(néng)燒傷周圍絕緣或造成觸頭燒溶粘接,從(cóng)而影(yǐng)&Ω>✔響開(kāi)關跳(tiào)閘時(shí)間(jiān)和(hé)&↑開(kāi)斷能(néng)力,甚至産生(shēng)拒動發生(s☆≤hēng),所以規程規定,開(kāi)關在安裝後、頂起和(hé)開(kāi)斷短(duǎn)®♠π₽路(lù)電(diàn)流一(yī)定次數(shù)後,都(dōu)要φ'(yào)進行(xíng)此項試驗

一(yī)、測量導電(diàn)回路(lù)電(diàn)阻的(de)目的(de)

高(gāo)壓開(kāi)關導電(diàn)回路(lù)直流回阻包括套管導電(d♦∑iàn)杆電(diàn)阻、導電(diàn)與§Ωε↔觸頭連接處電(diàn)阻和(hé)動、'λ®靜(jìng)觸頭之間(jiān)的(de)接觸電(diàn)阻等。導電✔α∏©(diàn)杆電(diàn)阻一(yī)般不(↓÷≠bù)會(huì)變化(huà),其他(tā)兩處的(de)鏈接電(diàn)阻和→™☆₹(hé)接觸電(diàn)阻由于各種因素之間(jε &'iān)的(de)影(yǐng)響(如(rú)觸頭表面氧化(ε↓huà)、觸頭間(jiān)殘留有(yǒu)機®€(jī)械雜(zá)物(wù)或碳化(huà)物(wù)、接觸壓力下(xià)降、₽β<接觸面積減小(xiǎo)和(hé)短(duǎn)路(€λ←≤lù)電(diàn)流燒傷等),常常有(yǒu)所增加。所以↑​測量每相(xiàng)導電(diàn)回路(lù)電(di↑γàn)阻,實際上(shàng)是(shì)檢查動、靜(jìng)觸頭之間(j'&★iān)的(de)接觸電(diàn)阻和(hé)連接電(diàn)阻的≥←π±(de)變化(huà),主要(yào)是∞™(shì)判斷動、靜(jìng)觸頭是(shì)否接觸良好(hǎo)。運行(xíng₩✘)中、動、靜(jìng)、觸頭之間(jiān)→π •的(de)接觸電(diàn)阻往往會(huì)增大(dà),使正常運行(xíng♥αΩ×)工(gōng)作(zuò)電(diàn)流下(xià)發生(s±≠✔hēng)過熱(rè),尤其是(shì)通(tōng)過短(duǎn)路(lù≤ ‍)電(diàn)流時(shí),觸頭發熱(rè)更嚴重,可(kě)能(néng)≤£燒傷周圍絕緣或造成觸頭燒溶粘接,從(cóng)而影(yǐng)響開(kāiλ♥)關跳(tiào)閘時(shí)間(jiān)和(hé)開(kāi)斷能(néng)力,甚至☆¥産生(shēng)拒動發生(shēng),所以相(xiàng)關規程規♦↓定,開(kāi)關在安裝後、頂起(包括大(dà)小(xiǎo)修)和(hé)開(kāi)斷短 Ωεφ(duǎn)路(lù)電(diàn)流一(yī)定次數(shù)後,都(dōu)要(&≥✔yào)進行(xíng)此項試驗。

二、試驗方法

測量高(gāo)壓開(kāi)關導電(dià✘ασn)回路(lù)電(diàn)阻的(de)‌φ∏方法采用(yòng)直流降壓法。測量接線原理(lǐ)圖如(rú)圖1&σ↓≥-1所示。

高(gāo)壓開(kāi)關導電(diàn)回路(lù)測量原理(lǐ)圖
圖1-1 高(gāo)壓開(kāi)關導電(diàn)回路(lù)測量原理(lǐ)圖
S—電(diàn)源控制(zhì)開(kāi)關 δε;Rf—分(fēn)壓電(diàn)阻;Rx—被測電(diàn)阻;
PA—直流電(diàn)流表;PV"€γ—直流毫伏表

由于導電(diàn)回路(lù)接觸電(diàn)阻很(hěn)小(xiǎo),都(>↑α♦dōu)是(shì)微(wēi)微(wēi)歐數(shù)量級,所以電("​γdiàn)壓表內(nèi)阻遠(yuǎn)遠(yuǎn)大(dà)于此值,故導電(diàn)回路(<'φ♠lù)電(diàn)阻值Rx=U/I。

根據動、靜(jìng)頭的(de)接觸面α∏£上(shàng)有(yǒu)一(yī)層極薄的(de)膜電>™(diàn)阻的(de)影(yǐng)響,如(rú)果直流電(di১$n)流太小(xiǎo),則所測電(diàn≈± ₩)阻小(xiǎo)于實際電(diàn)阻值,不(bù)準确。相(xiàng)關規程要(yào)求↕≈∑£直流電(diàn)流I≥100A,使接觸面上(shàng)的(de)極薄的(d€€₽÷e)膜電(diàn)阻擊穿,所測電(diàn)阻值與實際電(diàn)阻值相(xiàng)↑₽符合。

三、回路(lù)電(diàn)阻測試儀

以前高(gāo)壓開(kāi)關導電(diàn)回路(lù)電≈ ∏δ(diàn)阻測量采用(yòng)直流伏安法,電(diàn)流一(yī)般×♥§€在10A,電(diàn)源由蓄電(diàn)池供給。顯然不(bù)符合'← 《規程》要(yào)求的(de)I≥100A。随著(zhe)電(diàn&&)學技(jì)術(shù)的(de)發展,目前開(kāi)關導電(diàαπ'n)回路(lù)電(diàn)阻測量都(d♥↔ōu)采用(yòng)專門(mén)的(de)測試儀,如(rú)我公司自(zì>•σ→)行(xíng)研發生(shēng)産的(de)ZC-302回路(lù)電(diàn)阻測試儀

ZC-302回路(lù)電(diàn)阻測試儀具有(yǒu)以下(xià)優點:

1.電(diàn)流滿足要(yào)求,I≥100A,200A可(kě)選,所以測♦★量值和(hé)實際值相(xiàng)符合。

2.測試儀內(nèi)部附有(yǒu)标準電(diàn)阻,測量精度較高(gāo)。₽δσ

3.電(diàn)流值能(néng)自(zì)動恒流,有(yǒuφ₩)效減少(shǎo)主流電(diàn)源波動對(duì)試驗結果的(de)影(yǐng≈↕‍)響。

4.采用(yòng)四端子(zǐ)接線法,有(yǒu)效排除測試線電(diàn)阻對 ‌€(duì)試驗結果的(de)影(yǐng)響。

5.測量電(diàn)流自(zì)動鎖定,不(bù)需要(yào)→∞人(rén)工(gōng)調節。

6.配備高(gāo)速熱(rè)敏打印 ∑≤機(jī),實時(shí)打印試驗結果,便于記錄。

7.測試速度快(kuài),USB接口可(kě≤₽ ✔)PC機(jī)連接,上(shàng)傳試驗☆♥ 數(shù)據。

8.長(cháng)時(shí)間(jiān)工"α↕(gōng)作(zuò),設有(yǒu)過熱(rè)保護電(diàn)♣↕∏路(lù),儀器(qì)可(kě)靠穩定。

9.操作(zuò)簡便,重量輕。

四、測量注意事(shì)項

1.如(rú)果采用(yòng)我公司的(de)ZC-302回路(lù)電(diàn)阻測試儀測量,則按ZC-302回路(lù)電(diàn)阻測試儀說(shuō)明(míng)書(shū)進行(xíng)。如(rú)果采用(yòng)伏→¥安法測量,防止因開(kāi)關測量過程中跳(tiào)閘而燒壞毫儀表。

2.測量前将開(kāi)關電(diàn)動合閘後測量,隻有(yǒu)允許手動合閘的(≥׶de)開(kāi)關才可(kě)以在手動合閘後進行(xíng)測量。

3.在測前應該将開(kāi)關跳(tiào)合幾次,以消除觸頭 ÷±之間(jiān)氧化(huà)膜影(yǐng)響。

4.如(rú)果開(kāi)關有(yǒu)主、輔觸頭或并聯支πβ路(lù),應對(duì)并聯的(de)每™∏₽一(yī)對(duì)觸頭分(fēn)别分(fēn)×↔↕•别進行(xíng)測量。測量時(shí)應在非被₩₹∑測的(de)觸頭間(jiān)墊以薄的(de)絕緣物(w♠ ♦ù)。

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