現(xiàn)場(chǎng)測試中回路(lù)電(diàn)阻測試儀存在的(de)弊端

　　回路(lù)電(diàn)阻測試儀是(shì)↔㱧斷路(lù)器(qì)導電(diàn)回路(l♦₹★ù)的(de)導電(diàn)性能(néng)的(de)好(hǎo)壞，對(←↑duì)保障開(kāi)關的(de)安全運行(xíng)具有(yǒu)重要(♥¥yào)作(zuò)用(yòng)。那(nà)麽在現(xiàn)場(chǎng)測'£試中回路(lù)電(diàn)阻測試儀也(yě>‍)存在一(yī)定的(de)弊端。為(wèi)了(σ£σ le)防止這(zhè)種弊端，我們廠(chǎng)裡(lǐ)制(zhì)造生 ≤ λ(shēng)産的(de)型号為(wèi)回路 ε(lù)電(diàn)阻測試儀為(wèi)适應規程要(yào)求，廣泛适用(yòng)于各種電(♠♠diàn)器(qì)開(kāi)關的(de)接觸電(diàn)阻✘‌、回路(lù)電(diàn)阻及電(diàn)纜電(diàn)線、焊縫接觸電(☆←diàn)阻的(de)測量。接下(xià)來∞≥₹(lái)和(hé)緻卓一(yī)起了(le)解回路(lù)電(diàn)阻測試儀存在的(d↑¶<©e)弊端。

　　如(rú)何看(kàn)出回路(lù)電(diàn)阻測試儀存在弊端，導電(diàn)性能(néng)的(de)優劣可(kěΩ )以通(tōng)過導電(diàn)回路(lù)電(d©‌₩iàn)阻的(de)大(dà)小(xiǎo©Ω)反映出來(lái)。因此IEC标準及制(zhì)造廠(chǎng)都(dōu)規定應測量回路(≥α∏​lù)電(diàn)阻，并且對(duì)↔♥↕各種形式的(de)開(kāi)關的(de)回路(lù)電(di‍∏àn)阻有(yǒu)明(míng)确規定指标。一(yī)般過去(qù)使用(♦≈₩≈yòng)雙臂電(diàn)橋。由于電(diàn)橋的(de)電(diàn)壓，電(d×÷♦₽iàn)流都(dōu)比較小(xiǎo)，當開(kāi)關的(de)動§≤​‍靜(jìng)觸頭之間(jiān)有(yβ↑$≤ǒu)雜(zá)質或表面有(yǒu)氧化(huà‌ε§)等，測試的(de)數(shù)據分(fēn)散性< ≈↕就(jiù)較大(dà)。同時(shí)電(diàn)橋的(de)εα抗幹擾性差。因此在标準和(hé)規程中都(dōu)有(yǒu™')規定“用(yòng)直流壓強法”， “電(diàφ≈σn)流不(bù)小(xiǎo)于100安”。

　　目前市(shì)場(chǎng)上(shàng)大(dà)部分® $(fēn)回路(lù)電(diàn)阻測試儀原理(lǐ)是(shì)采用(yòng)典型的↑≠€✔(de)四線制(zhì)測量法，由高(gāo)頻(↓‍pín)開(kāi)關電(diàn)源提供大(dà)于100A的(de)測試電( &©↕diàn)流，按下(xià)測量鍵時(shí)，高(gāo)頻(pí∏↓λn)開(kāi)關電(diàn)源輸出大(dà)于100A以上(shàng"☆€)的(de)測試電(diàn)流，同時( ↕γshí)采樣電(diàn)路(lù)開(kāi)始采樣，取得(de)的(de)信✘↑βσ号經放(fàng)大(dà)器(qì)放(fàng)大(dà)，由A/D轉φ¶¶換器(qì)将模拟信号轉換成數(shù)字信号後，再經微(wēi)處∑→↑≈理(lǐ)器(qì)對(duì)數(shù)據進行(xíng)濾波、運算(suàn♥☆≥∑)、處理(lǐ)，Z後送顯示器(qì)顯示出此次測量的(de)電(dià₽∑n)流和(hé)電(diàn)阻值。并可(kě)以在當電(diàn)流測Ωβ試回路(lù)出現(xiàn)斷線或接觸不(bù)良時(shí)，回路(lù)電(di≥&¶$àn)阻測試儀會(huì)根據電(diàn)流分(fēn)流器Ω✘'(qì)上(shàng)的(de)電(diàn)壓判斷出電(diàn)流回路(lù)→™ε接觸不(bù)良或開(kāi)路(lù)。

　　現(xiàn)場(chǎng)測試中回路(lù)電(d≤ε₹βiàn)阻測試儀也(yě)存在的(de)弊端有(yǒu)以下(xià)幾種情況

　　按照(zhào)常規設計(jì)原理(lǐ)£₹設計(jì)的(de)回路(lù)電(diàn)阻測試儀在<₽現(xiàn)場(chǎng)測試時(shí)發現(xiàn)，都(dōu)普遍存在一(yī)個(₹≈​gè)問(wèn)題：當測試儀電(diàn)壓接線回路(lù)出現(xià$™¥n)接觸不(bù)良或開(kāi)路(lù)時(shí)，測試儀還(hái)會(huì)顯示一(yΩλī)個(gè)數(shù)值，此時(shí)§↓" 會(huì)出現(xiàn)以下(xià)幾種情況：

　　(1)電(diàn)壓回路(lù)開(kāi)路(lù₩ β✔)，測試現(xiàn)場(chǎng)沒有(yǒu)強電(diàn)場(chǎng)幹擾，這(♦'∏✔zhè)種情況下(xià)，由于放(fàng)大(dà)器(qì)輸入的(de> →≈)差模電(diàn)壓基本為(wèi)0，故儀器(qì)顯示的(de)測試數(shù)值接近(£₩₽₩jìn)為(wèi)0，如(rú)果測試人(rén)員(yuán)有(yǒu¥•× )足夠的(de)現(xiàn)場(chǎng)測試經驗，可(kě)以判斷出是(ε©shì)儀器(qì)電(diàn)壓回路(lù)測試線異常，将儀器(qì)電(♦​≥diàn)壓回路(lù)測試線異常排除後，可(kě)以得(de)出Z終正确測試結£™​果;如(rú)果測試人(rén)員(yuán)沒有(yǒu)足夠 <的(de)現(xiàn)場(chǎng)≤§§₹測試經驗，有(yǒu)可(kě)能(néng)會(huì)誤判測試儀出現(xiàn)問(wèn)≥♦→δ題，中斷測試，更換或返修儀器(qì)，延誤停電(diàn)時(shí)≤δ±₹間(jiān)，給測試工(gōng)作(zu®∞ ò)帶來(lái)不(bù)必要(yào)的(de)麻煩。

　　(2)電(diàn)壓回路(lù)接觸不(bù)良，大(dà)多(duō)數(shù)情況下$&(xià)斷路(lù)器(qì)的(de)接線端子(z♦±ǐ)在長(cháng)期運行(xíng)後端子(zǐ)排外(wài)表面會(huì)産§ε生(shēng)氧化(huà)膜或油膜，當回路(lù)電(diàn)阻儀的(de)"₹™電(diàn)壓測試鉗夾接到(dào)這(zhè)樣的(de)端子(zǐ)排上(s&↑λ•hàng)時(shí)就(jiù)可(kě)能(néng)産生(shēng)接觸不(bù₹φ&®)良，既電(diàn)壓測試線鉗夾本身(shēn)也(yě)要(yào)産生≠׶•(shēng)一(yī)定的(de)接觸電(diàn)阻，該接觸電(diàn)阻值達到(dào♠↔)與電(diàn)壓采樣回路(lù)的(de)內(nèi)阻值 ♦相(xiàng)當時(shí)，将對(duì)測試結γ>☆果産生(shēng)嚴重影(yǐng)響。

　　(3)電(diàn)壓回路(lù)開(kāi)路(lù)或接觸不(bù)良(開₹∑ (kāi)路(lù)時(shí)可(kě)視(shì)接觸電(diàn)阻R1無窮"≤大(dà))，測試現(xiàn)場(chǎng)€♥$§有(yǒu)較強的(de)電(diàn)磁幹擾，如(rú)母線$∞$¶帶電(diàn)，此時(shí)帶電(diàn)母線通(t"←ōng)過以空(kōng)氣為(wèi)介質的(de)電(diàn)容，幹擾測試儀的(de)兩條電π♠ (diàn)壓測試線，由于幹擾的(de)作(z★↕₩uò)用(yòng)使回路(lù)測試儀電(dià★ ×n)壓采集線兩端出現(xiàn)差模電(∞λλ>diàn)壓。

　　如(rú)果幹擾較大(dà)，會(huì)使回路(lù)電(diàn)阻測試儀顯示出比被φ☆±≠試品電(diàn)阻值大(dà)的(de)多(duō)的(de)數(shù)₹​值，此時(shí)如(rú)果測試人(rén)員(yuán ​₹®)有(yǒu)足夠的(de)現(xiàn)場(chǎng)≥₽測試經驗也(yě)許能(néng)夠判斷出測試結果的(d♥φδ®e)異常，能(néng)夠引起注意并Z終得(d$εe)到(dào)正确測試結果。但(dàn)如(rú)果測試人(∞♥rén)員(yuán)沒有(yǒu)足夠的(de)經驗可(kě)能(nén®‌↕Ωg)會(huì)誤判開(kāi)關回路(lù)電(diàn&☆ )阻值超标，可(kě)能(néng)會(huì)采用(yòng)停電(diàn)檢修的(de)方 →γ 法處理(lǐ)缺陷，給電(diàn)力生(shēng)産造成不(bù)必要(yào)↑γ的(de)損失。

　　如(rú)果幹擾的(de)強度不(bù)是(shì)很(hěn)大(dà)，儀器(qì¶$)顯示值正好(hǎo)在斷路(lù)器(qì)的(de)合格阻Ω→值範圍之內(nèi)，該情形與情況“(2)電(diàn)壓回路(lù)接觸不(bù)良”産生₽​(shēng)的(de)結果相(xiàng)同，同樣會(huì)造成誤判。

　　2、利用(yòng)改進型四線制(zhì)測量法解決以上(s&£hàng)問(wèn)題。

　　我廠(chǎng)根據對(duì)以上(s★"↑σhàng)問(wèn)題的(de)分(fēn)α∑≥↑析，提出改進四線制(zhì)測量法，采用 ↑®®(yòng)新電(diàn)源技(jì)術(s≠&↔hù)，能(néng)長(cháng)時(shí)間(jiān§≤)連續輸出大(dà)電(diàn)流，克服了(le)脈沖式電(diàn)源瞬間(j γ iān)電(diàn)流的(de)弊端，可(kě)以有(yǒu≤♦<)效的(de)擊穿開(kāi)關觸頭氧化(huà)膜，解決了(le)現(xiàn)場(c¥ ÷hǎng)測試中回路(lù)電(diàn)阻測試儀存在的(de)弊端問(w' èn)題。

　　通(tōng)過大(dà)電(diàn)流恒流源給試品加電(di<$àn)測試，采集電(diàn)壓電(diàn)流的(de)數(shù)值，計(jì)算(suà♦ ©©n)試品的(de)電(diàn)阻值。此時(shí)測出的(de)數(≠‌shù)值一(yī)定是(shì)試品的(de)真實的(de)電≈φ$(diàn)阻值，杜絕了(le)虛假數(shù)據的(₩ ←de)産生(shēng)。即使現(xiàn)場(chǎngλ•<₽)有(yǒu)較強電(diàn)場(chǎng)幹擾，由于電(σ©diàn)壓回路(lù)中的(de)電(d≠✘φ¥iàn)阻很(hěn)小(xiǎo)，感應到(dào)電(di±✘≤àn)壓測試端的(de)電(diàn)壓為(wèi)共模電(diàn)壓，回路(lù)電>ε"'(diàn)阻測試儀通(tōng)過電(diàn)容接地(dì)的♦←©π(de)方式将這(zhè)個(gè)交流共模幹擾降到(dào)很¶©(hěn)低(dī)，不(bù)會(huì)對(duì)測試精度産生(shēng)影(y↔βǐng)響。

　　以上(shàng)表明(míng)自(zì)動​γ☆判斷和(hé)提示功能(néng)提高(gāo)了(le)測試準确性和(hé♣φ)提高(gāo)了(le)生(shēng)¥©≈Ω産效率，是(shì)現(xiàn)場(chǎng)試驗人(rén)員(yuán)快(♥¥★kuài)速解決問(wèn)題的(de)主要(yào)依靠。