CTP-1000B變頻(pín)式互感器(qì)綜合↕ 測試儀是(shì)在傳統基于調壓器(qì)、升壓器(qì)、升♠ €流器(qì)的(de)互感器(qì)伏安特性變比極性綜合測試儀基礎上(shàng),廣泛聽(tīnΩ₹£•g)取用(yòng)戶意見(jiàn)、經過大(dà)量的(de)市(✘shì)場(chǎng)調研、深入進行(xíng)理(lǐ)論研究之後Ω© 研發的(de)新一(yī)代革新型CT、PT測試儀器(qì)。裝置采用(yòng∑)高(gāo)性能(néng)DSP和(hé)FPGA、先進★<&的(de)制(zhì)造I藝,保證了(le)産品性能(néng)穩定可(k' >σě)靠、功能(néng)完備、 自(zì)動化(huà)★£程度高(gāo)、測試效率高(gāo)、在國(guó)內(nèi)處于領先水(shuǐ)平,是(sλ₽hì)電(diàn)力行(xíng)業(yè)用(yòng)于互δ★ ±感器(qì)的(de)專業(yè)測試儀器(qì)。下(xià)面×♠和(hé)中谷測控一(yī)起了(le)解。
變頻(pín)式互感器(qì)綜合測試儀是(shì)一(yī)款專門(mén)為(wèi)測試互感器(♦•λφqì):CT伏安特性、誤差曲線、變比、極性、退←π<磁、二次負荷、角差、比差、暫态PT勵磁、變比、極性、二次負荷功能(néng)等α₩參數(shù)而設計(jì)的(de)多(duō)功能(néng)現(xiàΩn)場(chǎng)試驗儀器(qì)。變頻(pín)式互感器(qì)測試儀基于前§Ω∑衛的(de)變頻(pín)法測試CT/PTπσ伏安特性曲線和(hé)10%(5%)誤差曲線,可(kě)輸出180A的(d™∞e)電(diàn)流,方便現(xiàn)場(chǎng)通(tōng)流測試,卻能(né₩γng)應對(duì)拐點高(gāo)達60KV的(de)CT測試。變頻(p✘₽ín)式互感器(qì)測試儀的(de)CT測試可(kě)以在比額定頻(pín)率低(dīδ©↕)的(de)情況下(xià)進行(xíng),避免繞組和(hé)二次端φ&子(zǐ)承受不(bù)能(néng)容許的(de)電(diàn)壓。
變頻(pín)式互感器(qì)綜合測試儀采用(yòng)低(dī)頻(pínε )法測量原理(lǐ):CT一(yī)次側開(™λ<kāi)路(lù),從(cóng)二次側施加電(diàn ≤★®)壓,測量所加電(diàn)壓V與輸入電(diàn)流I的(d♦¥e)關系曲線。此曲線近(jìn)似CT的(de)勵磁電(diàn)勢™εE與勵磁電(diàn)流I的(de)關系 π曲線。
設CT勵磁繞組在某一(yī)勵磁電(diàn)流I時(λγshí)的(de)激磁電(diàn)感為(wèi)L,激磁阻抗×∞" 為(wèi)Z,則:V = I•Z
電(diàn)感L與阻抗Z之間(jiān)具有(yǒu)下(xià)述關系:
Z = ω•L = 2 π f L 則:V= I•2 π f L
由公式中可(kě)見(jiàn)在某一(yī)激磁電(diàn)感L時(shí)所←→加電(diàn)壓V與頻(pín)率f成正比關系。
假設當f = 50Hz時(shí),為(♦ >wèi)達到(dào)勵磁電(diàn)流Ix,所需施加的(de)電∞ (diàn)壓Vx為(wèi)2000V
Vx = Ix•2 π f L = 2000V,
若施加不(bù)同頻(pín)率:
f = 50Hz,Vx= 2000V
f = 5Hz,Vx≌ 200V
f = 0.5Hz,Vx≌ 20V
由此可(kě)見(jiàn)需要(yào)使CT進入相(xiàng)同飽和(h"Ωφé)程度,施加較低(dī)頻(pín)率信号所需電(diàn)壓可€>↔(kě)以大(dà)幅度降低(dī)這(zhè)就(jiù)是(shì≤♦•₩)變頻(pín)法的(de)基本原理(lǐ)。
在此須嚴格注意,所需電(diàn)壓并非與頻♣&'δ(pín)率呈線性比例關系,并非随著(zhe)頻(pí₹✘€$n)率等比例降低(dī),需要(yào)嚴格按照(zhào ±)變頻(pín)互感器(qì)測試儀的(de)準确數(shù)學∑γ模型進行(xíng)完整的(de)理(lǐ)論計(jì±♣ )算(suàn)。
以上(shàng)就(jiù)是(shì)中谷測控整理(lǐ)分(fēn)享的(de)關于變頻λ∞"¥(pín)式互感器(qì)綜合測試儀測量原理(l↕ ÷↑ǐ),希望可(kě)以幫助到(dào)你(nǐ)們。想了(le)解更多(duō)相(<÷∑ xiàng)關産品,歡迎來(lái)電( $± diàn)咨詢武漢中谷測控有(yǒu)限公司。