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電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)校(xiào)驗儀産品介紹

時(shí)間(jiān):2019-06-12 閱讀(dú): 次 來(lái)源:中谷測控
文(wén)章(zhāng)标題:電(diàn)₩≈子(zǐ)式互感器(qì)校(xiào)驗儀産品介紹關  鍵 詞:互感器(qì)校(xiào)驗儀,電(diàn)子(zǐ)式互感器←₽™(qì)校(xiào)驗儀概      述:電(diàn)子(zǐ)♠®式互感器(qì)校(xiào)驗儀正是(shì)為(wèi↕α )了(le)解決電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)的(dφ∞e)檢測校(xiào)驗問(wèn)題

一(yī)、電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)校(xiào)驗儀産品介紹

1. 随著(zhe)智能(néng)電(diàn)網技(jì)術(shù)突飛(f'☆•ēi)猛進的(de)發展,數(shù)字λ← 化(huà)變電(diàn)站(zhàn)的(de)試點建設已經越來(lái)越多(duō)♦‌,數(shù)字化(huà)變電(dià♣♠₹¥n)站(zhàn)由于采用(yòng)光(guāng)纖進行(xíng)數(shù)字量的(±♥↑βde)傳輸,不(bù)存在二次壓降以及模拟電(diàn)能(néng)表的(de)AD&∞♣φ采集誤差,這(zhè)大(dà)大(dà)減少(shǎo)了(l↑ €e)傳統計(jì)量二次回路(lù)的(de)誤差。&→數(shù)字化(huà)是(shì)當今世界電"↑£(diàn)力發展的(de)方向。

2. 電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)作(zuò)為(wèi)模拟世界到(dào)數(s'✘←hù)字世界的(de)橋梁,在數(shù)字化(h>✘uà)變電(diàn)站(zhàn)中占有(yǒu)舉足輕重的(de)地(dì)位,可(kě)‌×以認為(wèi)電(diàn)子(zǐ)式互感器(qìε>‍>)是(shì)數(shù)字化(huà)變電(diàn)站(zhàn)的(de)基石,所有(y↓δ↓ǒu)的(de)數(shù)字量都(dōu)是(shì)來(lái)源它。因此電(d£ββ‌iàn)子(zǐ)式互感器(qì)的(de)精度和(hé)性能​<σ(néng)非常重要(yào)。我國(guó)計(jì)量法規定↔¥↓®所有(yǒu)的(de)計(jì)量器(qì)具都(dōu)必須得(€ ★πde)到(dào)量傳,也(yě)就(jiù)是(shì)所有(yǒu)的(de)計₹≠ε←(jì)量器(qì)具都(dōu)必須能(néng)夠實現(xià‌→n)量值朔源。因此在實際應用(yòng)中需要(yào)對(du☆σì)電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)進行(xíng)量傳,在現(x←∞iàn)場(chǎng)安裝後也(yě)需要(yào)對(duì)其進行(xíng)±±校(xiào)驗,驗證其測量精度和(hé)穩定性,以及對(du£☆₹πì)IEC61850協議(yì)支持的(±±φΩde)正确性。

3. ZC-104電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)校(xiào)驗儀正是(shì)為(wèi)了(le)解決電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)的(deγπλ)檢測校(xiào)驗問(wèn)題,它支持IEC61850-9-1和≤≥±σ(hé)IEC61850-9-2,具備對(duì)電(diàn)子(z§λǐ)式互感器(qì)進行(xíng)角差、比差進行(xíng)校(₹€×∞xiào)驗的(de)功能(néng),并可( ↓ ₹kě)對(duì)通(tōng)信報(bào)文(‌' αwén)進行(xíng)全息分(fēn)析,可(kě)以對(duì)數(shù)字互感器(qì)進♠< ↓行(xíng)各種通(tōng)信故障測試以及精度校(xiào)驗。

4. ZC-104電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)校(xiào)驗儀≈∑‍Ω內(nèi)核采用(yòng)雙CPU架構,功能(néng)強大(dà),以24Bi♣♣≠t AD芯片和(hé)512倍過采樣技(jì)術(shεαεù)大(dà)大(dà)擴展了(le)帶寬,提高(gāo)了(le)測∑¶量精度。同時(shí),采用(yòng)多(duō)檔位自(zì)動切換和( £∏hé)FIR濾波器(qì)提高(gāo)動态範圍和(hé)信噪比。使用(yòng)Lab₹φView 開(kāi)發管理(lǐ)軟件(jiàn),界面美(mγ±Ωěi)觀,使用(yòng)方便。電(diàn)源和(h€↓é)采樣輸入采取了(le)大(dà)量的(de)電(diàn)→≥<磁兼容措施,能(néng)夠适應複雜(zá)的(de)現(x♣‍ iàn)場(chǎng)測試環境。采用(y≤"òng)便攜式設計(jì)方案,方便實驗室和♥ε∏§(hé)現(xiàn)場(chǎng)檢測。

5. ZC-104電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)校(xiào)驗儀主要(yào)用(yòng)于對(duì)符合IEC61850≥‌δφ(-9-1、-9-2、-9-2LE)标準輸出的(de)電(diàn)子(z₽±Ωǐ)式互感器(qì)進行(xíng)校(xiào)驗。校(xiào)驗項目包括:比值差∞'、相(xiàng)位差、延時(shí)、極性等。同時(shí)配置有ε→≥♣(yǒu)小(xiǎo)信号輸入端子(zǐ),可(kě)對★←↓↕(duì)小(xiǎo)信号輸出的(de)電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)進行(xíα ↕ng)校(xiào)驗以及對(duì)小(xiǎo)信号輸入的(de)合并單元進行(xíng) γ≈>校(xiào)驗等。

電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)校(xiào)驗儀

二、電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)校(↕↑γ↔xiào)驗儀産品特征

1. 對(duì)符合IEC61850(-9-1、-9-2、-9-2LE)、IEC6004★‍4标準、小(xiǎo)信号(LPCT/Rogowski)輸出的(de)電(dià¥☆γn)子(zǐ)式互感器(qì)進行(xíng→α)校(xiào)驗;

2. 可(kě)輸出精密小(xiǎo)電(dià>β ¶n)壓信号,對(duì)小(xiǎo)信号輸入的(de)合并單元進行(xíng)校(xiào$¥♦)驗;可(kě)輸出數(shù)字信号(FT3格式),對(duì)支持FT3輸入的(de)≠φ‍↔合并單元進行(xíng)校(xiào)驗;

3. 支持同步信号輸出、同步信号輸入、非同步延時(shπ≈í)等方式對(duì)電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)精度進行(xíng)校(xiào)驗♦σ;精度校(xiào)驗項目包括基波比差、角差、絕對(duì♠¶←✘)時(shí)延及各次諧波比差、角差等;

4. 支持對(duì)Mu的(de)幀傳輸延時(shí)、幀離(lí)散度、丢幀、錯<↑☆≈(cuò)序、對(duì)時(shí)守時(shí)精度等校(xiào$✔∞)驗;支持暫态複合誤差校(xiào)驗;支持暫态比差、角±Ω©×差越限、采樣點突變、品質變位錄波等;

5. 支持諧波分(fēn)析功能(néng),能(n₹‌↑éng)夠對(duì)标準及被檢采樣信号進行(xíng)2~40次諧波分(fēnβ₽φ✔)析,顯示柱狀圖及信号畸變率;

6. 支持參數(shù)自(zì)動檢測功能(n®≈ ≈éng),支持全站(zhàn)SCD配置文(wén)件(jiàn)解析,可(kě)一(yδ±γī)鍵完成參數(shù)設置;對(duì)SMV報(bào)文(wén)進行(xíng)全協→₽☆議(yì)解析,分(fēn)析其協議(yì)格式÷✘≠及各參數(shù)的(de)配置;

7. 可(kě)統計(jì)比值差及相(xiàng)位差的(d♣±£e)均值、變差、極值、多(duō)次誤差等,全面檢定電(d '↔≥iàn)子(zǐ)式互感器(qì)的(de)穩定性及線性;

8. 支持FT3狀态字控制(zhì)功能(néng);支持FT3異常控制(zhì)•£ £(如(rú)幀停止輸出異常、躍變異常、飛(fēi)點異常↑λ↑≈等);

9. 具備協議(yì)一(yī)緻性分(☆∏fēn)析功能(néng),解析全幀各數♦™₩(shù)據項判斷其是(shì)否滿足協議(yì)一(yī)≥ε§緻性要(yào)求;

10. 使用(yòng)傳統互感器(qì)校(xiào)驗裝置(BHE型)和(hé)Agi¥'¥lent3458A數(shù)字多(duō)用(yòng)表實現(xiàn)量值傳遞;→δλ•

11. 可(kě)使用(yòng)內(nèi)↕™←置的(de)GPS或高(gāo)穩定度的(de)晶體(tǐ)輸出脈沖同步信号;

12. 能(néng)對(duì)IEC61850(-9-1、-9€>✔-2、-9-2LE)的(de)協議(yì)包進行(xíng)全幀解析,自(z‌∞ì)動分(fēn)析ASDU個(gè)數(shù),采樣點數(shù)等,×∑可(kě)顯示所有(yǒu)通(tōng)道(dào)波形圖,無需抓包即可(kě)直觀查 π♠看(kàn)所有(yǒu)通(tōng)道(∑§>dào)數(shù)據;

13. 具有(yǒu)ST、SC雙光(guāng)纖以太網接口和(hé)雙RJπΩ45以太網接口,提高(gāo)可(kě)靠性,同時(s±​δhí)方便接入不(bù)同接口的(de)電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì);

14. 6階準同步算(suàn)法使得(deπ±)非同步采樣的(de)算(suàn)法誤差逼近(jìn)于零;

15. 采用(yòng)24Bit AD芯片和(hé)512倍過采樣技(jì)術(shù),大(επdà)大(dà)擴展帶寬提高(gāo)精度;

16. 采用(yòng)多(duō)檔位自(zì)動切換和(hé)FIR濾•♣波器(qì)提高(gāo)動态範圍和(hé)降低(dī)信噪比;

17. 實時(shí)顯示波形、頻(pín)率、幅度、相(xiàng)位等數(shù)據便于δ"¶‌綜合分(fēn)析互感器(qì)性能(néng);

18. 帶有(yǒu)工(gōng)控機(jī),800×600觸摸屏,更₹α能(néng)方便操作(zuò);

19. 配有(yǒu)功能(néng)強大(dà)•§,操作(zuò)簡便的(de)操作(zuò)φδ‌₽軟件(jiàn),可(kě)運行(xíng)于工(gōng)控™§π€機(jī)或筆(bǐ)記本;

20. 可(kě)統計(jì)比值差及相(xiàng)位差的(de)均值♥Ω™、變差、極值、多(duō)次誤差等數(shù)據,可(kě)對↕ ∏(duì)電(diàn)子(zǐ)式互感器(qì)的(de)穩定性∞∏>‌及線性進行(xíng)全面檢定;

21. 可(kě)進行(xíng)多(duō↑"≈×)次諧波分(fēn)析及對(duì)電(diàn)子(zǐ)₽÷式互感器(qì)的(de)各次諧波精度進行(xíng)校(xià♠&≈♦o)驗;

22. 可(kě)對(duì)測試過程全程錄制(zhì)及回放(fàng);

23. 可(kě)進行(xíng)丢幀測試,實時(shí)的(de)統計(jì)丢幀數(sh♥"↔∏ù)。

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